手機(jī)充電頭金屬件瑕疵快速檢測方案利用及深度學(xué)習(xí)檢測方法快速完成金屬件雙面瑕疵測量，具有高精度高效率、檢測范圍廣等優(yōu)勢。

設(shè)備概況：

· 設(shè)備尺寸: 900(W)*1800(L)*1400(H) mm

· CT: 1.2s/pcs ?     

· 檢測手機(jī)充電器金屬頭部分的瑕疵

· 有自動取料，自動測量、自動下料和分Bin功能

· 上料部分包括升降模組及移動模組；測量部分由5個CCD構(gòu)成，對工件5個區(qū)域（正反面、兩側(cè)面以及一頂面）的瑕疵進(jìn)行檢測；下料部分分為OK區(qū)域和NG區(qū)域。

· 瑕疵檢測類型豐富：條形光用于檢測橫印，同軸光用于檢測點(diǎn)傷、發(fā)白、缺口，環(huán)形光用于檢測刮傷、亮印、臟污、側(cè)點(diǎn)傷等瑕疵。