X-ray膜厚儀是天瑞儀器結(jié)合20多年的X熒光研發(fā)經(jīng)驗(yàn),集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù),研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的,性?xún)r(jià)比優(yōu)的金屬電鍍層厚度檢測(cè)儀。
X-ray膜厚儀鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法:
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-2005
2、X-ray法(X射線法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-2005
3、庫(kù)侖法,此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
性能優(yōu)勢(shì)
1.性高:由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測(cè)量的性更高。
2.滿(mǎn)足不同需求:測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強(qiáng)大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿(mǎn)足不同客戶(hù)不同樣品的測(cè)試需要。
3.快速:40S就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測(cè)量精度要求。
4.無(wú)損:測(cè)試前后,樣品無(wú)任何形式的變化。
5.直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)
6.簡(jiǎn)易:對(duì)人員技術(shù)要求較低,操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。
7.性?xún)r(jià)比高:相比其他類(lèi)類(lèi)儀器,x熒光鍍層測(cè)厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。