Thick800型X熒光膜厚測量儀采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。
Thick800型X熒光膜厚測量儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,不同的元素有不同的特征X射線;探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理;計(jì)算機(jī)的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
它能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時間短,僅為數(shù)十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。
天瑞儀器公司集中了內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)專家及生產(chǎn)技術(shù)人員,依靠科學(xué)研究,總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),結(jié)合中的特色,開發(fā)生產(chǎn)出的Thick800 型X熒光鍍層測厚儀具有快速、、簡便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn),廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。
儀器特點(diǎn):
1. 儀器外觀選用流線型設(shè)計(jì),時尚雅致。
2. 同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾(U)。
3. 可以分析多5層鍍層,次可分析元素多達(dá)24種。
4. 無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程,無損測試。
5. 檢出限可達(dá)到2ppm。
6. 分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm 。
7. 采用美原裝、際的探測器,能量分辨率高。
8. 采用美原裝、際的AMP,處理速度快,精度高,穩(wěn)定。
9. X光管采用正高壓激發(fā),激發(fā)與測試條件采用計(jì)算機(jī)軟件數(shù)碼控制與顯示。
10. 采用彩色攝像頭,觀察拍攝樣品。
計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)
聯(lián)想計(jì)算機(jī);高分辨率彩色液晶顯示器。
惠普打印機(jī)。
系統(tǒng)軟件
際的XRF分析軟件,融合了包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法(FP法)、
理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法,面:單層、雙層、多層、合金鍍層測試數(shù)據(jù)的性。
電源
AC 220V~240V、50Hz 。
額定功率:350W。選配高精度參數(shù)穩(wěn)壓電源。
儀器尺寸、重量
樣品腔尺寸:498*360*158 mm(W*D*H)
主機(jī)外形尺寸:580*500*580 mm (W*D*H)
主機(jī)重量:約50KG。
應(yīng)用:
塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層(接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等)、鋼鐵材料鍍層(鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等)、有色金屬材料鍍層(銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等)、 其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。