主要參數

1、測試頻率：20Hz～200KHz，精確度0.02%基本量測準確度：0.1%

2、3種阻抗輸出模式選擇，測量結果可與各廠家之LCR表對比增強式圈數比

3、準確測量，適用于低磁道率的磁芯

4、提供各種標準測試治具及特殊治具訂制四端測試治具，可得到DCR，電感量和圈數比精確穩定的測量。內建式比較器，10級分類及計數功能（僅適于3252/3302）2M SRAM記憶卡供機臺資料設定及備份標準RS～232，HANDLER及PRINER界面50組內部儀器設定可供儲存及呼叫

5、測試參數：圈數比（TURN RATIO），相位（PHASE），圈數（TURN），電感（L），品質因子（Q），漏電感（LK），平衡（BALANCE），交流電阻（ACR），電容（CP），直流電阻（DCR），接腳短路（PIN SHORT）

6、測試電壓：10MV-10V，10MV/STEP

7、測試頻率：20Hz～200KHz/1MHz