PJ40半導體檢查顯微鏡
儀器簡介
1、各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像。附件齊全,配置完善,可靈活進行系統組合與功能拓展。人機工程學設計，擁有堅實可靠的系統結構。
2、這款經濟高效的顯微鏡能夠檢查多種器件和晶圓。調焦機構和照明強度控制裝置相互緊挨，可使用同一 只手操作。特別適合中小尺寸半導體FPD檢查，線路板切片量測，符合行業標準，增強了安全性和可靠性。
3、的明場光學系統，采用全新半復消技術，集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式，任何觀察下都能呈現清晰銳利的顯微圖像，可根據實際應用，進行功能選擇，是工業檢測的有效工具。
