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Gemini XPS 和 EM 微孔讀板機(jī)（酶標(biāo)儀）

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公司名稱美谷分子儀器（上海）有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/9/5 15:11:42
訪問次數(shù)271

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公司介紹主營產(chǎn)品

Molecular Devices于1983年在美國硅谷成立，于1987年推出其一臺(tái)微孔板讀板機(jī)，自此，Molecular Devices通過其不懈的研發(fā)與合作，不斷拓展其在生物分析檢測(cè)系統(tǒng)中的解決方案。

       Molecular Devices為您提供高性能的分析檢測(cè)系統(tǒng)，加快和改進(jìn)藥物研發(fā)和及基礎(chǔ)生命科學(xué)的研究。我們的產(chǎn)品幾乎可以滿足所有通量、內(nèi)涵以及預(yù)算的需求。除了科研單位和部門外，我們還幫助制藥和生物技術(shù)企業(yè)從分子、細(xì)胞和系統(tǒng)水平去了解各項(xiàng)生物功能，研究開發(fā)新的治療方法。

       Molecular Devices于近幾年收購了Universal Imaging Corporation (2002年) 、Axon Instruments (2004年)、Blueshift Technologies （2008年）和Genetix （2012年），從而進(jìn)一步拓展了公司的產(chǎn)品領(lǐng)域?，F(xiàn)在，Molecular Devices與Leica、AB Sciex、Beckman Coulter等公司均隸屬于Danaher集團(tuán)公司，我們的產(chǎn)品線包括：微孔板讀板機(jī)系列、液體處理系統(tǒng)、電生理檢測(cè)系統(tǒng)、神經(jīng)細(xì)胞生物學(xué)儀器和軟件、高內(nèi)涵細(xì)胞成像系統(tǒng)、生物芯片掃描儀和軟件、Threshold系統(tǒng)以及篩選試劑、克隆挑選系統(tǒng)等。其中，微孔板讀板機(jī)系列涵蓋了光吸收、熒光強(qiáng)度、化學(xué)發(fā)光、熒光偏振、時(shí)間偏振熒光等測(cè)讀模式以及終點(diǎn)檢測(cè)、光譜掃描、快速和慢速動(dòng)力學(xué)的檢測(cè)方法。

       Molecular Devices總部位于美國硅谷中心桑尼韋爾市，并在設(shè)有多個(gè)代表處，包括美國、法國、英國、德國、中國、韓國、日本、巴西等。我們的理念是不斷滿足用戶需求的同時(shí)始終關(guān)注用戶的成功。

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酶標(biāo)儀

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Gemini XPS 和 EM 微孔讀板機(jī)（酶標(biāo)儀）

Gemini XPS 和 EM 微孔讀板機(jī)（酶標(biāo)儀）產(chǎn)品信息

多波長檢測(cè)，無需濾光片

具備雙光柵的 Gemini XPS 和 EM 微孔讀板機(jī)（酶標(biāo)儀）為熒光檢測(cè)實(shí)驗(yàn)提供優(yōu)質(zhì)且靈活的激發(fā)光和發(fā)射光設(shè)置。多點(diǎn)孔域掃描優(yōu)化了細(xì)胞實(shí)驗(yàn)的靈敏度。根據(jù)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的校準(zhǔn)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)比樣本之間的相對(duì)熒光單位 (RFU)。溫度可以在室溫到 45°C 之間穩(wěn)定調(diào)節(jié)，支持監(jiān)測(cè)溫度敏感性反應(yīng)。

無需更換濾光片

免去對(duì)確認(rèn)、購買和更換濾光片的麻煩。雙光柵提供 250 - 850nm 的激發(fā)和發(fā)射波長選擇。
更精準(zhǔn)地進(jìn)行測(cè)定

孔掃描可以反映從微孔板孔中心的單個(gè)點(diǎn)到整個(gè)組織培養(yǎng)孔中的多個(gè)點(diǎn)的熒光測(cè)定值。
避免丟失高信號(hào)

使用我們的自動(dòng) PMT 優(yōu)化系統(tǒng)來避免丟失飽和的高信號(hào)值并找到正確的酶標(biāo)儀（讀板機(jī)）設(shè)置。

Gemini

特點(diǎn)

頂讀功能

從 6到 384 孔板，支持頂讀模式的Gemini XPS 微孔板讀板機(jī)（酶標(biāo)儀）可在終點(diǎn)、動(dòng)力學(xué)、光譜掃描和孔掃描模式下檢測(cè)各種樣本的熒光。
頂讀和底讀功能

從 6 到 384孔板，支持頂讀和底讀模式的Gemini EM 微孔板讀板機(jī)（酶標(biāo)儀）可在終點(diǎn)、動(dòng)力學(xué)、光譜掃描和孔掃描模式下檢測(cè)各種樣本的熒光。