半導體激光器所發出的激光具有一定的發散角，直接照射探測器，不能獲得準確的功率值。CPLD150激光光譜功率測試系統，使半導體激光器發出的激光在積分球內形成均勻的光強分布，由光功率計和光纖光譜儀分別測量波長和功率，通過專業的軟件輸出測量結果。測量波長范圍200-1100nm，分辨率0.1-1nm，功率范圍：100nW-10W。
產品特點：
● 功率可達10W
● 積分球與光功率探頭一起校準
● 波長可覆蓋200-1100nm
● 專用軟件可以一鍵獲取光譜及光功率數據
應用：
半導體激光器光譜和功率測量
產品組成：
1.積分球
創譜儀器提供的CPISA150積分球為全鋁殼體，內球徑為150mm。激光器處于積分球的頂部，與探測器和SAM905適配器成90°分布。光纖光譜儀通過光纖連接積分球SMA905適配器。
● 激光器、探測器和SMA905適配器的位置可根據用戶的具體需求進行調整。
● 激光器適配器可根據用戶的具體尺寸要求進行設計。
● 探測器與積分球同時校準。
● 涂層波長范圍200-1100nm。
● 涂層損傷閾值10W/cm2
2.光功率計：
創譜儀器CPM07系列手持式光功率計，外形適中，配備了大尺寸的LCD段碼顯示屏，也可以通過USB2.0接口與計算機實時通訊，支持雙路采集模式。創譜儀器也提供多種光電探測器選擇，波長范圍200nm-1100nm，功率范圍100pW-10mW。
3.光纖光譜儀
創譜儀器提供的光纖光譜儀，體積只有名片大小，分辨率高達0.35nm-1nm，而66系列光譜儀分辨率高達0.1nm。兩個系列的光譜儀都提供波長響應范圍分為200nm-1000nm和300nm-1100nm的探測器供用戶選擇。
4.其余光電元器件，歡迎！
