日立TM4000掃描電鏡

日立TM4000掃描電鏡*的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
TM4000Plus是在TM4000基礎上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環境下具有很好的成像質量。TM4000Plus可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進行顯示，獲得多的樣品信息。可選配附件豐富，擁有諸多附加功能。

日立TM4000掃描電鏡

主要參數：
1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV（均四檔可調）、EDX
2. 放大倍率：10×~100000×
3. 觀察模式：導體（TM4000Plus）、標準模式，消除電荷模式
4. 探測器：4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器            （TM4000Plus）

日立TM4000掃描電鏡

應用領域：生命科學

                 材料科學

                 化學

                 電子制造

                 食品工業