性能優(yōu)勢
1.儀器年工作，具有的穩(wěn)定性和性
2.可在約50秒內(nèi)同時(shí)分析32個通道
3.單分光室，方便保養(yǎng)、維護(hù)
4.原廠分析程序，可校正集體效應(yīng)和譜線干擾
5.使用認(rèn)證標(biāo)樣來標(biāo)定和標(biāo)準(zhǔn)化工作曲線，分析的度
6.光源設(shè)計(jì)緊湊，降低電磁干擾，改善儀器穩(wěn)定性
7.高質(zhì)量的真空光學(xué)系統(tǒng)
8.高質(zhì)量的恒溫和防震性能
技術(shù)指標(biāo)
分光室設(shè)計(jì)：帕邢-龍格裝置，1米焦距
根據(jù)測試需求分為真空型（真空度≤3Pa）、空氣型兩種
恒溫控制（32℃±0.1℃）
特殊材質(zhì)鑄造，光室形變小
多安裝通道：32
凹面光柵：刻線密度2160gr/mm
曲率半徑998.8mm
逆線色散率0.47nm/mm
波長范圍170～463mm
狹縫寬度：入射狹縫20μm，
出射狹縫為整體狹縫，寬度為35～75μm
光電倍增管：10級側(cè)窗型，熔融石英或玻璃外殼
分辨率：依光柵、出射狹縫和級次而不同
分析時(shí)間：依樣品種類而不同，般少于40秒
激發(fā)光源：高壓火花放電，放電頻率200或400Hz，電極間距3～4mm
測光方式：采用光電倍增管檢測器測光，光電倍增管負(fù)高壓連續(xù)可調(diào)，傳統(tǒng)的分段積分法
控制系統(tǒng)：利用FPGA技術(shù)，控制整個儀器的工作狀態(tài)
尺寸重量：1680mm（L）×1000（W）×1150（H）（包括激發(fā)臺） 重量500kg
技術(shù)優(yōu)勢
際供應(yīng)商提供核心部件
光譜色散元件---息凹面光柵由法Jobin Yvon制造，的光譜分辨能力；
光譜檢測器---光電倍增管由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲，可測量P、S、B等真空紫外譜線，器件壽命般高于十年；
真空光室系統(tǒng)核心部件---真空泵由美Varian制造，光室清潔、無油狀態(tài)。
樣品臺預(yù)防電磁輻射和噪聲設(shè)計(jì)
激發(fā)電源設(shè)計(jì)緊湊，樣品臺安裝在密閉的鋼鐵護(hù)罩門中，并配以門開閉狀態(tài)確認(rèn)開關(guān)，降低測試樣品時(shí)高強(qiáng)度的電火花產(chǎn)生的電磁輻射和噪聲。
整體出射狹縫設(shè)計(jì)
高精度刻制整體狹縫帶各預(yù)制元素譜線狹縫同時(shí)安裝，此設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了原廠生產(chǎn)快速調(diào)試和后期客戶處快速通道補(bǔ)充安裝。
檢測器分立連續(xù)負(fù)高壓模塊
創(chuàng)新的檢測器分立連續(xù)負(fù)高壓模塊設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了檢測器負(fù)高壓連續(xù)、大范圍的調(diào)節(jié)。使負(fù)高壓調(diào)節(jié)更為，使光電倍增管工作于適合負(fù)高壓。
光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，光室內(nèi)恒溫。由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除特殊維護(hù)，平時(shí)保養(yǎng)般不需進(jìn)行描跡。同時(shí)檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。
快速同時(shí)分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素
將已預(yù)處理樣品置于樣品臺后，OES 1000可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結(jié)果。可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。
專業(yè)的測試方案
測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案；
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求；
分析程序由原廠采用際、家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正；
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
EDX 4500 X能量色散是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對大氣顆粒物富集物重元素進(jìn)行分析，在大氣濾膜富集物含量分析中具有無損、快速、等特點(diǎn)，提高檢測時(shí)間和工作效率。
