CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。
行業(yè)
用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，LED支架，五金電鍍，連接器等……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量。
CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業(yè)生產(chǎn)廠家優(yōu)勢：
杰出的*穩(wěn)定性：
·自動熱補(bǔ)償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結(jié)果
·簡單快速的光譜校準(zhǔn)，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正
堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)
·可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作
·堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)
·經(jīng)行業(yè)驗(yàn)證的技術(shù)，在銷售量超過3000臺
有效調(diào)整生產(chǎn)過程，從而提高生產(chǎn)力
·確保元件可靠性
·優(yōu)化質(zhì)量控制，從而確保產(chǎn)品生命周期
·測量焊料合金成份和鍍層厚度
·分析導(dǎo)電性鍍層金和鈀的厚度
·測量電腦硬盤上的NiP層厚度
電鍍處理的成本zui小化，產(chǎn)量zui大化
·快速簡單的分析
·同時進(jìn)行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析
·zui多可分析4層（不包括基層）
·鍍液成份分析
珠寶及其他合金的快速無損分析
·貴金屬合金分析
·黃金純度分析
·材料鑒定
CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業(yè)生產(chǎn)廠家樣品種類：
鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測，如Au karat評價(jià)
材料和合金元素分析，
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達(dá)4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析
CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業(yè)生產(chǎn)廠家使用方法：
儀器裝上電池后，按下“ON/OFF”按鍵開機(jī)，等蜂鳴聲響后，液晶顯示屏上顯示"0"時，儀器自動進(jìn)入測量狀態(tài)，直接將測頭垂直并快速緊壓到工件表面的涂鍍層上，儀器通過測頭自動測量出涂層厚度，并通過顯示屏把厚度值顯示出來（注意：測量時注意測頭保持垂直）
CMI900系列X射線熒光鍍層測厚儀專業(yè)生產(chǎn)廠家功能技術(shù)參數(shù)：
測試模式：儀器默認(rèn)為連續(xù)（CONT INUE）測量模式，因?yàn)檫B續(xù)測試更能減少手誤操作誤差，這性能技術(shù)高于一般同行的涂層測厚儀水平，一般的涂層測厚儀只有單次測試模式，東儒DR系列測厚儀都可以調(diào)節(jié)連續(xù)測試和單次（SINGLE）測量方式。
統(tǒng)計(jì)功能：一般涂層測厚儀需要手工操作記錄數(shù)據(jù)，然后計(jì)算平均值等，東儒涂層測厚儀設(shè)置了自動求取zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、平均值（MEA）、測量次數(shù)（No）四個統(tǒng)計(jì)功能，更便捷，簡單，方便。
存儲功能：這是區(qū)別于一般涂層測厚儀的分界線，DR260/270/280測厚儀可存貯800多個測量數(shù)據(jù)，連接電腦導(dǎo)出數(shù)據(jù)*保存，打印存檔，留住輝煌成就，更具*性。
測量范圍：0-1250/3000μm（超過1250μm要提前告知廠家另行定制）
使用環(huán)境：溫度：0℃-50℃,濕度：20%RH—90%RH,無強(qiáng)磁場環(huán)境下使用
分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm）
zui薄基體：0.4mm
測量精度：±（1%-3%） 1.5μm
外形尺寸：130mm*70mm*24mm
電源：三節(jié)（7號）堿性電池
重量：100g
特點(diǎn)：小體積，重量輕，便攜，現(xiàn)場測量，可以用于實(shí)驗(yàn)室內(nèi)，電子數(shù)顯，大液晶顯示屏，背光，連續(xù)測試，統(tǒng)計(jì)功能等。
全國聯(lián)保，一年保修，終生維護(hù)，七天包換，損耗材價(jià)格實(shí)惠。
