服務內容
高加速壽命試驗(HALT/HASS)測試流程
一、樣品信息背景調查,試驗前應對樣品進行充分的分析,評估可能發(fā)生失效或故障的元部件、連接措施、焊接工藝等。宜提前準備替代或修復措施。
二、試驗前確保被試品的安裝要求
a) 確保熱電偶(控制熱電偶)被正確的安裝在測試樣本上,以便于提供參考給試驗箱溫度設置調整點。產(chǎn)品的熱電偶必須放置在測試單元的外表面,最好放在低熱量聚集的地方。這些熱電偶不應該放置在產(chǎn)生熱量的器件附近或者產(chǎn)品密封部分的內部。產(chǎn)品的響應熱電偶應當被安裝在能夠充分評估樣本在溫度環(huán)境下響應的位置。建議安裝位置包括產(chǎn)生主要熱量的器件、溫敏器件。
b) 確保安裝在振動臺的測試樣本使用了合適的樣本夾具,從而能夠使得測試樣本獲得最大的溫度和振動應力。產(chǎn)品響應加速計應該被安裝在能夠充分評估產(chǎn)品對輸出振動響應的位置。建議安裝位置:靠近固定硬件、最大的反饋點(PCB 中央)或者疑似的薄弱位置。
三、高加速壽命試驗(HALT/HASS)具體試驗項目:
a) 溫度步進試驗,包括:低溫步進應力試驗和高溫步進應力試驗;
b) 快速溫度變化試驗;
c) 振動步進試驗;
d) 綜合環(huán)境應力試驗;
e) 回歸驗證。
服務范圍
本測試適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等。對于大型整機,宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級別(如印制電路板組件、子模塊)上進行試驗。還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設計和(或)試產(chǎn)階段,也可用于批量生產(chǎn)階段。
檢測標準
GB/T 34986—2017/IEC62506:2013 產(chǎn)品加速試驗方法 GB/T 29309-2012 電工電子產(chǎn)品加速應力試驗規(guī)程高加速壽命試驗導則 4、檢測項目 電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等產(chǎn)品各研制高加速試驗(HALT/HASS)試驗。
相關資質
CNAS
測試周期
1周~2周
服務背景
為什么要做此測試?
1、快速發(fā)現(xiàn)設計及程序的限制因素
2、評估和改良產(chǎn)品設計極限
3、找到統(tǒng)計特色的信息
4、減少研發(fā)時間及成本
5、正式量產(chǎn)前即消除設計上的問題
5、作為工程工具作為評估改變對產(chǎn)品造成的影響
我們的優(yōu)勢
廣電計量經(jīng)過在軌道交通檢測數(shù)年積累,形成了博士8人、碩士59人的專業(yè)人才團隊,各方面研究方向同步業(yè)內研究進展,研究設備為(Qualmark公司的Typhoon 4.0 inferno型設備)。