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  • 公司名稱萊森光學(深圳)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號LS-NF-T100
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/7/11 6:49:22
  • 訪問次數159
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萊森光學(LiSen Optics)作為的光譜學解決方案提供商,是一家提供光機電- -體化集成解決方案的高科技公司,我們專注于光譜傳感和光電應用系統的研發、生產和銷售。萊森光學(深圳)有限公司于2016年在中國成立,同時萊森光學(LiSen Optics)在美國三大光學研究中心之-的佛羅里達州建立了LISEN OPTICS INC (美國公司)。自成立以來始終秉持'技術弓|進與技術創新并重的發展理念,以掌握核心技術和戰略驅動創新作為公司的發展思路,致力于為客戶提供高品質、專業化、精細化的光電技術服務。憑借著在光學行業中豐富的經驗,我們能夠為每一位客戶”量身定做滿足個性化需求的光機電一體化解決方案。經過全體員工的不斷努力,公司先后獲得了深圳市和國家認定、ISO9001 質量管理體系認證、國家知識產權貫標體系認證、深圳市雙軟企業認證、國家科技型中小企業認定,目前正在申請國家CNAS實驗室認證等資質。此外,公司自成立以來一直致力于為科研及 工業用戶提供具有革命性*技術的光譜傳感和光電應用系統。我們還具備極其豐富的定制經驗,如:光機設計、機電設計、軟件開發、定制系統,以滿足不同用戶的多樣化需求。目前,我們的產品已廣泛應用于物理學、化學、生物制藥、能源環境、半導體制造和食品加工等領域。萊森光學主要產品分類:1、遙感探測光譜測量解決方案:地物光譜儀系列,無人機載高光譜成像系統、水體光譜儀等2、高光譜成像相機測量解決方案:便攜式高光譜成像系統、光譜相機、紅外高光譜相機等3、水質光譜測量解決方案:多參數水質光譜集成模塊,硝氮光譜傳感模塊等4、VCSEL-TOF測量解決方案:科研級多功能LIV光譜功率測量系統,工業級激光光譜功率測試儀5、光譜透反射測量解決方案:多角度透反射光譜測量系統,IR孔微區透反射集成方案6、子效率光譜測量解決方案:電致發光量子效率光譜系統,光致發光量子效率光譜系統7、LIBS激光誘導擊穿光譜測量解決方案: -體化LIBS激光誘導擊穿光譜系統,分體式LIBS激光誘導擊穿光譜系統8、光譜輻射測量解決方案:紫外光譜輻射儀,寬光譜紫外可見近紅外光譜輻射儀,中紅外光譜輻射儀、LED光譜輻射測系統9、光學積分球測量解決方案:積分球均勻光源,激光功率積分球,通用標準型積分球,透反射積分球,光譜輻射標定積分球,定制積分球等10、微型光譜儀測量解決方案: OEM微型光譜儀、高分辨率微信光譜儀、高靈敏度紅外光譜儀等11、光譜原位在線測量解決方案: :光譜電化學原位測量系統、厭氧停留光譜全吸收原位測量系統12、 光學附件:光源系列,漫反射標準板系列,光纖探頭系列,其他光學附件目前,我司現有大量用于光譜檢測的實驗平臺和精密光電分析設備,基于這些精密儀器和實驗平臺,我們能更精準實現復雜光路搭建、精密光學測試、光電聯調、以及光譜檢測數據的實驗驗證、貴重光學元件保存、批量生產數據可重復性等,從而掌握了高精度、高穩定性、精密光譜檢測和生產技術,建立了完善的產品數據溯源體系。特別要指出的是,萊森光學(深圳)有限公司-中國公司擁有專業光譜標定實驗室,如光譜響應標定、輻照度標定、輻亮度標定、光譜波長標定等,建立了國際的溯源體系可溯源NIST/NIM/PTB/NPL,在行業內部形成了良好口碑,為國內客戶提供了更優質的產品和本地化技術服務。
萊森光學®可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測解決方案:LIV光譜/功率積分測試、NF近場特性測試、FF遠場特性測試、BRDF/BTDF光學材料AR/VR特性測試、VCSEL積分球,實現對VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠場測量等各種定制化應用需求。
近場測試 產品信息

LS-NF-TF100近場測試

VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser,垂直共振腔表面放射激光)技術目前在在人臉識別、3D感測、手勢偵測和VR(虛擬現實)/AR(增強現實)/MR(混合現實等應用領域越來越受到關注,萊森光學®可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測解決方案:LIV光譜/功率積分測試、NF近場特性測試、FF遠場特性測試、BRDF/BTDF光學材料AR/VR特性測試、VCSEL積分球,實現對VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠場測量等各種定制化應用需求。

近場測試技術特點

1.光譜范圍:400-1100nm

2.可測量光斑范圍45μm – 4 mm

3.大功率100mW (可加衰減片OD1 - OD5)

4.實時監測DUT空間光傳輸強度分布和發散情況(光斑大小、發散角、功率密度和均勻性)

5.分光衰減系統(直接耦合成像鏡頭和光斑分析儀,一體化設計)

 

 

 

 

 

關鍵詞:芯片
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