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BHAST溫濕度偏壓高加速應力測試 試驗箱
bHAST溫濕度偏壓高加速應力測試（Bias Highly Accelerated Stress Test）bHAST測試為帶電的高溫高濕條件下的可靠性（參考與執行試驗標準:JESD22-A110）。該測試的目的就是為了讓器件加速腐蝕，看芯片的工作狀態。施加電壓的原則如下：測試芯片所有供電要接上，處于工作狀態下的最小功耗。
BHAST溫濕度偏壓高加速應力測試 試驗箱
測試時間
通常會去做130攝氏度的測試，時間比較快，測試結果也可以得到認可。芯片測試數量為：（3個Lot，每個lot最少25顆）
帶電壓拉偏 ，遵循得原則：
（1） 所有電源上電，電壓：推薦操作范圍電壓（Maximum Recommended Operating Conditions）
（2） 芯片、材料功耗最小（數字部分不翻轉、輸入晶振短接、其他降功耗方法）
（3） 輸入管腳在輸入電壓允許范圍內拉高。
（4） 其他管腳，如時鐘端、復位端、輸出管腳在輸出范圍內隨機拉高或者拉低
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