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廣電計量檢測集團股份有限公司

TAKAOKA TOKO MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海衡鵬企業發展有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海
  • 廠商性質代理商
  • 更新時間2024/6/11 9:26:12
  • 訪問次數184
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總部設于上海,系專業化、集成化的電子制造行業綜合服務性企業。公司致力于引進國外制造設備、精密檢測儀器、*生產材料,服務于國內電子制造行業,以助于國內企業提高產品品質,由制造型向創造型企業邁進。公司依托于中國國內電子制造業的高速發展,產品已涉及消費電子制造、汽車電子、半導體、LED以及光伏太陽能等行業領域,已在市場中建立起良好的信譽和廣泛的商業資源。近年來,隨著市場的日漸成熟和業務的不斷發展,公司的業務已經遍布中國大陸以及港臺市場,并形成較為完善的銷售網絡,深得廣大電子產品制造商的青睞。本公司將緊跟信息時代的發展步伐,充分利用自身優勢,不斷提升自身的服務理念,致力于為客戶提供更專業化、系統化的技術與服務,進一步建立穩固的銷售網絡,從而將公司發展成為中國電子行業發展的企業。 

電子元器件及配件,焊接材料,實驗設備
MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置特點:高速
TAKAOKA TOKO MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置 產品信息

MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置特點:


高速,高感度Die-DB檢查

可以很靈敏的檢測出CD缺陷

可以離線回放檢查

(如果需要在離線回放檢查時同時進行處理,需要另外追加 PC設備)

可以進行Die和DB檢查領域的混合檢查(選配項)

Allowed combination inspection of Die-DB and Die-Die

可以對應MIS-CA1804T / 180nm設計規則

(最小檢出缺陷尺寸:250nm)

可以對應MIS-CA1303T / 130nm設計規則

(最小檢出缺陷尺寸:180nm)



15700106413
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