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廣電計量檢測集團股份有限公司

TAKAOKA TOKO MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海衡鵬企業發展有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/6/11 8:53:30
  • 訪問次數126
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上海衡鵬企業發展有限公司成立于1999年11月,總部設于上海, 在深圳,香港,東京,河內設立有分公司。公司一直致力于引進技術、制造設備、精密檢測儀器、關鍵生產材料,為中國電子制造企業服務。經過二十多年的發展,公司通過收購合并已發展為具有自主工業軟件設計開發,高精密裝置的設計及制造裝配能力的跨國企業集團。服務于新能源汽車制造、半導體生產、5G通訊制造,航空航天,智慧醫療,自動化工業控制等細分行業。如今我們正不斷努力,希望通過*高效的生產技術與設備,幫助您提高生產效率,降低能耗,保護環境。與您攜手營造綠色地球,共創美好未來。
MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置特點:高速
TAKAOKA TOKO MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置 產品信息

MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置特點:


高速,高感度Die-DB檢查

可以很靈敏的檢測出CD缺陷

可以離線回放檢查

(如果需要在離線回放檢查時同時進行處理,需要另外追加 PC設備)

可以進行Die和DB檢查領域的混合檢查(選配項)

Allowed combination inspection of Die-DB and Die-Die

可以對應MIS-CA1804T / 180nm設計規則

(最小檢出缺陷尺寸:250nm)

可以對應MIS-CA1303T / 130nm設計規則

(最小檢出缺陷尺寸:180nm)



15700106413
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