產品介紹
VeOS 是一款配備基于半導體檢測器系統的火花光譜儀，其分析性能（包括實驗室光譜儀所需的光譜分辨率）與已建立的基于光電倍增管的系統一樣好。這種全新的光電探測器技術專為火花發射光譜而開發，可確保在 130 至 800 nm 的整個所需波長范圍內獲得準確的結果。 光敏探測器的設計特點是其表面的光敏度是傳統系統中探測器的 100 倍，專門針對發射光譜的要求進行了調整。因此，這是一款提供光譜靈敏度和光譜分辨率的組合以及創新設計的設備，既保證了 OBLF 的的質量，又保證了大的使用靈活性。
性能特點
- 完整而靈活地包含所有分析任務
- 易于擴展的功能
- 新的、專門開發的檢測器技術
- 在檢出限、準確度、穩定性方面表現良好
- 堅固耐用的設計，適用于重載環境
- 全面的多矩陣應用選項，沒有任何限制
- 關于選擇分析元素
- 準確檢測 N 和痕量碳 (ULC)
技術參數
- 光學系統：
Paschen-Runge 陣容
溫度穩定在 +5°C
分辨率 7 pm/Pixel（50 pm/Pixel 堿性光學）
波長范圍 130 - 680/780 nm
三種固態探測器
優化 OES 的像素區域
由于背面照明，對短波長的靈敏度高
- 電子
每個像素的 16 位 AD 轉換
DSP 處理器控制的傳感器讀數
連接光譜儀 PC 的 USB 接口
- 電源供應：
230V; 50/60 Hz; 1,5 kVA
待機模式下 300 W
- 環境條件
工作溫度：10 – 40 ºC
產品尺寸
尺寸和重量
寬度：74 cm
高度：134 cm
深度：115 cm
重量：約 300 kg
產品參數
