M-2000系列橢圓偏振儀專為滿足薄膜表征的各種需求而設計。的光學設計、寬光譜范圍和快速數據采集結合在一個極其強大和多功能的工具中。M-2000 兼具速度和準確性。我們獲得的 RCE 技術將旋轉補償器橢圓偏光儀與高速 CCD 檢測相結合，可在幾分之一秒內通過各種配置收集整個光譜（數百個波長）。M-2000 是一款擅長從現場監測和過程控制到大面積均勻性映射和通用薄膜表征的所有方面的橢圓儀。沒有其他橢圓儀技術能夠更快地獲取全光譜。

◆的橢圓儀技術

M-2000 利用我們獲得的 RCE（旋轉補償器橢偏儀）技術來實現高精度。

◆快速光譜檢測

RCE 設計與的、經過驗證的 CCD 檢測兼容，可同時測量所有波長。

◆寬光譜范圍

收集從紫外線到近紅外的 700 多種波長——全部同時進行。

◆靈活的系統集成

M-2000 采用模塊化光學設計，適合直接連接到您的處理室或配置在我們的任何桌面底座上。

◆準確性

的設計可確保對任何樣品進行準確的橢圓偏光測量。

◆光譜范圍

D：193-1000 nm

X-210：210-1000 nm

X：245-1000 nm

U：245-1000 nm

V：370-1000 nm

+I：增加 1000-1690 nm

◆波長數

D：500個波長

X-210：485個波長

X：470個波長

U：470個波長

V：390個波長

+I：增加190個波長

◆探測器：感光元件

◆入射角

45°-90°（自動角度底座）

20°-90°（立式自動角度底座）

65°（固定角度底座）

65°（測試底座）

◆數據采集率（完整頻譜）：0.05 秒（典型值為 2-5 秒）

◆max基材厚度 ：18mm

◆電源要求：100/240 伏交流電，47-63 赫茲，<1 安培

◆產地：美國

M-2000是一款多功能的光譜橢偏儀，適用于多種不同的樣品類型。涂層可以是電介質、有機物、半導體，甚至是薄金屬。

◆光學鍍膜

◆化學/生物學

◆導電有機物

◆半導體

◆光伏

◆原位