CMI760
桌上型銅厚測量儀
CMI760可用于測量表面銅和孔內鍍銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統能采用微電阻和電渦流兩種方法來達到對表面銅和孔內鍍銅厚度準確和精確的測量。
CMI760臺式測量系統具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內銅和微孔內銅厚度的測量、以及孔內銅質量測試的多種應用需求。
CMI760具有*的統計功能用于測試數據的整理分析。
SRP-4探頭：SRP系列探頭應用*的微電阻測試技術。測量時，通過厚度值與電阻值的函數關系準確可靠地得出厚度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響?？捎捎脩糇孕刑鎿Q探針的SRP-4探頭為牛津儀器產品。耗損的探針能在現場迅速、簡便地更換，將停機時間縮至zui短。更換探針模塊遠比更換整個探頭經濟。
安柏來科學儀器（上海）有限公司 成立于上海，在蘇州、深圳、成都設有銷售及服務點。
業務涉及
儀器設備事業：科學儀器、檢測工具、實驗室設備、工業自動化；
材料事業：工業材料、實驗室耗材
實驗室及生產線集成事業：QA/QC實驗室整體方案、電鍍代加工、電鍍廢水中貴金屬回收再利用。
有能力為客戶提供：售前應用評估及測試、售后技術支持、設備維護保養及校驗、標準樣品及零部件供應、標準樣品再認證（ISO17025）、備用設備租賃。
產品包括但不局限于：X射線熒光（XRF）、電子顯微鏡、能譜儀、白光干涉膜厚測量、磁感應及渦流、超聲、原子吸收（AAS）、原子力顯微鏡（AFM）、實驗室模擬系統、三座標、二次元、自動色差測量平臺……滿足客戶的QA/QC及R&D測試需求。
代理的品牌來自德國、英國、美國、日本，包括：Applied Spectroscopy、Amtec、Bruker、ColorPartner、Hydac、Oxford、K Alpha、SII 等……
不斷完善的產品解決方案、專業的技術眼光、高效率的運營、客戶為先的理念，我們追求與客戶*穩定的配合、致力于成為客戶的技術采購合作伙伴。
非接觸式3D輪廓儀，白光干涉膜厚儀，XRF鍍層測厚儀，表面銅厚和孔內銅厚測量儀，手持式XRF光譜儀
牛津儀器CMI760桌上型銅厚測量儀 產品信息
