產品詳情：
臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。
我們以“更高畫質、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發出TM4000系列。在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
為您提供全新的觀察和分析應用。
產品特點：
觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數據，并制作報告。
|| 觀察與分析的靈活性
自動獲取各類數據。快速切換！
可快速獲得元素分布圖*2
*1 TM4000PlusⅡ的功能。
*2 選配
|| 使用Camera Navi*的話，就是如此簡單
Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察
* 選配：Camera Navi系統
|| 操作簡單且快捷
觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像，并導出測試報告。
|| Report Creator可讓您輕松制作報告
只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告
|| 即便是絕緣物樣品，也無需預處理，就可直接進行觀察。
“靜電減輕模式”可抑制靜電現象
對于容易產生靜電的樣品，可使用“靜電減輕模式”，在抑制靜電的狀態下進行觀察。
只需用鼠標在軟件上點擊即可切換到“靜電減輕模式”。
|| 可在低真空的條件下進行多種觀察
對于容易產生靜電的粉末或含水等樣品，可結合其目的進行觀察。
|| 可在低真空的條件下進行二次電子像（表面形狀）觀察。
無需預處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面
不僅是觀察傳統的導電性樣品，還可以在無預處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品。可快速進行二次電子像與背散射電子像之間的切換。
|| 高感度低真空二次電子檢測器
采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過控制該檢測器，來檢測電子照射所產生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。
|| 可支持加速電壓20 kV
TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析（選配），可進行更高計數率解析。
|| 通過加速電壓20 kV，實現EDS元素分布圖的高S/N化
|| Multi Zigzag（選配）
可實現在廣域范圍內進行SEM觀察。
搭配自動馬達臺，可實現低倍率，高精度，大范圍的觀察分析。
|| EM 樣品臺（選配）
|| 可輕松觀察 STEM 圖像
與全新開發的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品.
|| 產品規格：
