產品介紹
Amptek將硅片制造引入內部，并改進了工藝。其結果是探測器具有更低的噪聲、更低的泄漏電流、更好的電荷收集以及探測器之間的均勻性。這使其成為性能更好的硅漂移探測器。
FAST SDD代表Amptek高性能的硅漂移檢測器（SDD），能夠在保持分辨率的同時，計數率超過1000000 CPS（每秒計數）。FAST SDD還可與C系列（Si3N4）低能窗一起使用，用于軟x射線分析。
與傳統SDD不同，FAST SDD在密封的TO-8封裝內使用結柵場效應晶體管（JFET）和外部前置放大器，在TO-8封裝內部使用互補的金屬氧化物半導體（CMOS）前置放大器，并用金屬氧化物半導體場效應管（MOSFET）代替JFET。這降低了電容，提供了更低的串聯噪聲，并在極短的峰值時間內提高了分辨率。FAST SDD使用相同的檢測器，但前置放大器在短峰值時間內提供較低的噪聲。改進的（較低的）分辨率能夠隔離/分離具有接近能量值的熒光X射線，否則峰值將重疊，從而允許用戶更好地識別其樣品中的所有元素。峰值時間短也會提高計數率；更多的計數提供更好的統計數據。
性能特點
- 25 mm2的活動面積校準為17 mm2
- 也可提供70 mm2準直至50 mm2
- 9 keV時的122 eV FWHM分辨率
- 計數率>1000000 CPS
- 高峰值與背景比–26000/1
- 前置放大器輸出上升時間<35 ns
- 窗口：Be（5密耳）12.5µm，或C系列（Si3N4）
- 抗輻射
- 探測器厚度500µm
- TO-8包裝
- 冷卻ΔT>85 K
- 多層準直器
技術參數
- 探測器類型：帶CMOS前置放大器的硅漂移檢測器（SDD）
- 探測器尺寸：25 mm2-校準至17 mm2，也可提供70mm2-準直至50mm2
- 硅厚度：500µm或1000um可用
- 準直器內部：多層準直器（ML）
- 4µs峰值時間下5.9 keV（55Fe）：122-129 eV FWHM時的能量分辨率（保證）
- 峰值與背景：20000:1（計數比從5.9 keV到1 keV）（典型）
- 探測器窗口選項：鈹（Be）：0.5密耳（12.5µm）或0.3密耳（8µm），C系列（Si3N4）低能耗窗戶
- 電荷敏感型前置放大器：CMOS
- 增益穩定性：<20 ppm/°C（典型）
- 總功率：<2瓦
- 設備壽命：通常為5至10年，具體取決于使用情況
- 操作條件：-35°C至+80°C
- 長期儲存：在干燥環境中儲存10年以上
- 典型儲存和運輸：-40°C至+85°C，濕度10至90%，不凝結
- 產地：美國
-尺寸
- 探測器模塊：TO-8封裝（0.640英寸高，包括銷，0.600英寸直徑）
- XR100盒：3.00 x 1.75 x 1.13英寸（7.6 x 4.4 x 2.9厘米）
- X-123箱：3.94 x 2.67 x 1.0英寸（10.0 x 6.78 x 2.54厘米）
- 原始設備制造商：配置各不相同
-重量
- 探測器模塊：0.14箱（4.1克）
- XR100盒：4.4盎司（125克）
- X-123箱：6.3盎司（180克）
- 原始設備制造商：配置各不相同
產品應用
- 超快速臺式和手持式XRF分析儀
- 作為EDS系統的一部分，在SEM中掃描/繪制樣品
- 在線過程控制
- X射線分揀機
- OEM
產品參數
