產品介紹
VFI是世界各地行業的光子學公司的理想干涉儀。VFI-2000是一種干涉檢測系統，專門用于檢查切割或拋光光纖的表面質量和平面度。VFI將高的圖像質量與易用性以及我們的客戶對Arden產品的可靠性和穩健性結合，從而實現您可以信賴的光纖端面測量。使用VFI，用戶可以在一系列不同的視圖中查看光纖，包括2D和3D視圖，讓用戶能夠充分了解其切割或拋光過程。因此，它已經證明自己非常適合研究、生產或QA環境。
性能特點
- 3種不同的視野
- 平面和斜角解理
- 檢查和條紋模式
- 自動或手動端角測量
- 2D或3D測量模式
- 三維端面高度圖
- 2D測量-實時；三維測量
- 7秒以下
- 高度數據可以保存為csv文件
- 數據輸出為Excel或HTML報告
技術參數
產地：英國
視野：max.2000µm，帶x1.5、x2、x3和x6數字變焦
圖像傳感器：1/1.8英寸CMOS陣列，12位，6.4MP
攝像頭傳感器尺寸：3088 x 2076像素，2.4µm平方像素
LED波長：525 nm
可測量解理角（不使用傾斜光纖支架）
2D模式：8°
3D模式：4°
測量時間
2D模式：實時
3D模式：<7 s
高度分辨率：0.01µm
尺寸：240（寬）x 240（深）x 90（高）mm
重量：3 kg
連接到計算機：USB 3.0（USB類型B到USB A；提供1米電纜）
供電：通過USB供電
操作系統：支持Windows 7/8/10 64位
計算機要求：4GB RAM；USB 3.0端口；64位
工作溫度：10–30°C
產品應用
切割機制造
切割機維護
激光制造
光纖研發、專業光纖制造
斜角切肉刀的開發和測試
裝置清管器尾礦
LDF切割機制造/維護
光纖端蓋制造
多光纖束制造
產品參數
