JADE — 智能化XRD分析軟件
JADE — Intelligent XRD Analysis Softwar
Materials Data (MDI)總部位于美國加利福尼亞州，幾十年來專注于開發(fā)XRD分析軟件。自主開發(fā)的JADE采用全譜擬合和Rietveld方法來分析XRD數(shù)據(jù)，并且很早使用結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)創(chuàng)建模擬衍射圖，向用戶展示了其重要性。JADE界面友好，功能強(qiáng)大且使用方便，是分析XRD數(shù)據(jù)的好的選擇。現(xiàn)在，JADE已經(jīng)遍布世界各地的X射線粉末衍射實(shí)驗(yàn)室并作為標(biāo)準(zhǔn)的XRD分析軟件，在科學(xué)研究、教育及資源探索方面得到廣泛的應(yīng)用。JADE兼容不同品牌衍射儀收集的數(shù)據(jù)，讓處理和分析XRD數(shù)據(jù)的過程變得更加簡單便捷，為用戶提供準(zhǔn)確、中立結(jié)果。我們致力于推進(jìn)XRD分析方法，并繼續(xù)為XRD領(lǐng)域開發(fā)功能更強(qiáng)大的軟件。
JADE — 科學(xué)家信賴的產(chǎn)品
JADE — Scientist Trust XRD Applications
智能化分析 — 分析結(jié)果更快、更準(zhǔn)
• JADE采用啟發(fā)式方法自動進(jìn)行分析，自動檢測文件格式
• JADE可自動擬合背景、尋峰、鑒定物相以及標(biāo)定品質(zhì)因數(shù)（FOM）
• JADE的“一鍵式全譜擬合分析”功能十分強(qiáng)大，速度驚人，定性定量分析結(jié)果更好
• JADE可批量進(jìn)行Rietveld分析，分析結(jié)果可直接用于文章發(fā)表或?qū)W術(shù)報(bào)告
• JADE Pro采用傅立葉電荷圖快速確定晶體結(jié)構(gòu)
同一界面 — 統(tǒng)一結(jié)果
- JADE適配于不同品牌的衍射儀，有效統(tǒng)一分析數(shù)據(jù)
- JADE提供新數(shù)據(jù)的檢索方法和數(shù)據(jù)分析方法，使您的設(shè)備繼續(xù)保持生命力
- JADE可兼容大部分晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫，包括PDF數(shù)據(jù)庫，NIST, AMCSD*. Amc, CIF, MOL, PDB等，支持用戶自定義數(shù)據(jù)庫
獨(dú)立于衍射儀 — 無偏見的分析結(jié)果
- 獨(dú)立于硬件制造商，專注于開發(fā)XRD數(shù)據(jù)分析應(yīng)用軟件
- JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式，包括同步輻射、理學(xué), 布魯克 (Siemens), 馬爾文帕納科 (Philips), ARL 賽默飛 (Scintag), 島津, Proto, XOS, X-Y格式以及其他格式的數(shù)據(jù)
- 對任何衍射儀測試的數(shù)據(jù)均可得到無偏見的分析結(jié)果，致力于追求最準(zhǔn)確的、無偏見的XRD分析和結(jié)果
獨(dú)立于衍射儀 — 無偏見的分析結(jié)果
- 獨(dú)立于硬件制造商，專注于開發(fā)XRD數(shù)據(jù)分析應(yīng)用軟件
- JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式，包括同步輻射、理學(xué), 布魯克 (Siemens), 馬爾文帕納科 (Philips), ARL 賽默飛 (Scintag), 島津, Proto, XOS, X-Y格式以及其他格式的數(shù)據(jù)
- 對任何衍射儀測試的數(shù)據(jù)均可得到無偏見的分析結(jié)果，致力于追求最準(zhǔn)確的、無偏見的XRD分析和結(jié)果
靈活的網(wǎng)絡(luò) — 易于分享，的選擇
- JADE 系列產(chǎn)品均使用電子，以便在不同電腦上運(yùn)行
- JADE Pro 可在局域網(wǎng)內(nèi)輕松訪問，共享使用
- 用戶可自定義個(gè)性化JADE 界面
- 同時(shí)購買多個(gè)使用權(quán)限，可享更多折扣
JADE Standard — 標(biāo)準(zhǔn)版
JADE Standard可選配置（版權(quán)）
Level 1 基礎(chǔ)版
Level 2A 基礎(chǔ)版 + S/M（物相檢索）
Level 2B 基礎(chǔ)版 + WPF（全譜擬合）
Level 3 基礎(chǔ)版 + S/M（物相檢索） + WPF（全譜擬合）
JADE Standard 模塊功能
JADE Standard — 基礎(chǔ)版
- 直觀、的用戶界面
- 可讀取所有衍射儀生成的文件
- 智能導(dǎo)入多列數(shù)據(jù)
- 合并多段衍射圖
- 一維、二維和三維衍射圖重疊顯示
- 類似衍射圖文件
- 支持多軸/多波長
- 支持自變/固定狹縫數(shù)據(jù)
- 零點(diǎn)偏移和θ校準(zhǔn)
- 背景擬合/批量擬合/去除
- 自動尋峰和多條件檢索
- 多種報(bào)告和打印選項(xiàng)
- 內(nèi)置入門數(shù)據(jù)庫
- 可訪問ICDD PDF和其它數(shù)據(jù)庫
- 多種數(shù)據(jù)庫檢索選項(xiàng)
- 可視化晶體結(jié)構(gòu)和衍射晶面
- 晶體結(jié)構(gòu)模擬衍射圖
- 獨(dú)立分析師/共享工作環(huán)境
- 支持用于檢索/匹配或全譜擬合的自定義d-I% 列表
- 峰型擬合與RIR定量分析
- 批量擬合峰型
S/M — 物相檢索
- 基于全譜的檢索/匹配
- 元素和晶胞參數(shù)用于檢索/匹配(S/M)
- 定固溶體和同晶型物相
- 擇優(yōu)取向數(shù)據(jù)和單峰的檢索/匹配
- • 快速有效鑒定低含量物相
- • 結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)庫管理器
WPF — 全譜擬合
- 全譜擬合- Rietveld精修(不限定物相)
- 優(yōu)質(zhì)的定量分析
- 一體化的定性定量分析
- 在分析中自動導(dǎo)入結(jié)構(gòu)參數(shù)
- 在分析中同時(shí)使用有結(jié)構(gòu)參數(shù)和無結(jié)構(gòu)參數(shù)的物相
- 在多物相分析中，連接和約束晶胞參數(shù)，物相峰寬參數(shù)等
- 自定義d-I% (hkl, FWHM, Skew)擬合黏土物相
- 支持March和球面諧波晶體取向函數(shù)
- 確定無定形物相含量(有無內(nèi)部重量標(biāo)準(zhǔn)均可)
- 原子占有率和鍵長約束
