產品介紹
maxLIGHT 采用無縫設計，可提供光收集量和業內高效率。經像差校正的平場波長覆蓋范圍從 1nm 到 200nm，光譜帶寬寬廣，例如每個光柵可覆蓋 5-80nm 的波長。maxLIGHT 具有集成的狹縫支架和濾光片插入裝置，以及電動光柵定位裝置。檢測器選項包括用于高分辨率和動態范圍的 XUV CCD，以及用于寬波長覆蓋范圍和門控/增強檢測的 MCP/CMOS 檢測器。采用直接光源成像。因此，無需狹窄的入口狹縫，可大限度地收集光線。與傳統的光譜儀結構相比，到達光譜儀探測器的光量增加了 20 倍。這種結構還大大提高了日常運行的穩定性。
性能特點
平場掠入射光譜儀
采用專有的無狹縫設計，效率高
波長范圍從 1 nm到 200 nm
集成示波器
模塊化交鑰匙設計
選型指南
可選功能與配件
無磁、旋轉幾何、偏振等
技術參數
產地：德國
拓撲結構：像差校正平場光譜儀和光束輪廓儀
光源距離：靈活
探測器：CCD 或 MCP/CMOS
工作壓力：<10-6 mbar（提供 UHV 版本）
無縫技術：是
入口狹縫：可選
光柵定位：電動閉環
光譜濾波器插入單元：是
控制接口：USB 或以太網
軟件：Windows UI 和 Labview/VB/C/C++ SDK
可定制：可定制
波長范圍：1-20 nm
色散：0.2-0.4 nm/mm
分辨率：在 10 nm處 <0.015 nm
產品應用
高次諧波發生源、阿秒科學、強激光物質相互作用、自由電子激光器、激光和放電產生的等離子體源、X 射線激光器、激光驅動的二次光源
產品參數
