產品介紹
ModuLab XM MTS系統設計的目的是檢驗由絕緣體至超導體的幾乎任何類型的材料，包括:
- 納米材料
- 半導體
- 光伏
- 陶瓷
- 聚合物
- 顯示材料
- 鐵電/壓電材料
- 介電材料
- 生物材料
- 超導體
該材料可以是固體，液體或粉末，可使用加熱到>1600℃高溫爐或冷卻到接近零度的低溫系統。使用時間域，阻抗和溫度測試大多數材料均可獲得性能表征。 對于如何用Solartron的系統測試這些材料可以在Solartron的網站上檢索得到應用案例：/stacksofapps/
陶瓷
陶瓷經常用于高溫及絕緣領域，特別是航天渦輪扇葉、宇宙飛船的材料片、引擎噴嘴、傳感器、盤狀剎車等。MTS系統的高電壓、高溫和低電流模塊的提供了陶瓷材料的測試環境。
MTS多種選項：
- MHV100V高電壓
- 外部超高電壓放大器（10kV）
- MREF采樣/參比模式
- 超微電流測量之MFAfA選項
- 高溫爐
聚合物
MTS系統可用于測量聚合物的電性能，如電纜絕緣材料、顯示屏基質材料、半導體低K介電材料、導電聚合物、塑料涂層等。 阻抗測試廣泛應用于聚合物介電特性的測試。
MTS多種選項：
- MHV100V高電壓
- MREF采樣/參比模式
- 超微電流測量之MFA fA選項
- MFRA交流性能測試
- 低溫系統用于玻璃化試驗
納米材料
新型納米材料參雜于現有的陶瓷、聚合物等材料中，制造出具有優異的機械、電氣及熱特性的復合材料。MTS系統的多功能性及模塊性結構是測試這些新型材料電性能的之選。
MTS多種選項：
- MHV100V高電壓
- MREF采樣/參比模式
- 超微電流測量之MFAfA選項
- 低溫系統
- MFRA交流性能測試
太陽能電池
太陽能電池以其來源于太陽的以及廉價的特點成為傳統燃料的替代。MTS系統集成I-V特性（評估功率/轉換效率）及阻抗/C-V特性（確定載流子密度和遷移率）測量為一體，簡化了測試程序，降低了投入成本。
MTS多種選項：
- 時域和交流測試
- MHV100V高電壓
- MREF采樣/參比模式
- 超微電流測量之MFAfA選項
- MBST 2A大電流選項
- MFRA交流性能測試
超導體
超導體是指在一個臨界溫度以下具有零電阻的材料，它們廣泛用于電磁體、如MRI、NMI與質譜儀；MTS系統的超低阻抗測試特點和精確的溫控附件是測量超導材料的必選。 既能精確控制溫度，又能測量超低阻抗，是對這類材料測試的要求。
MTS多種選項：
- MBST 2A大電流選項用于低阻抗測試
- 低溫系統
- MFRA交流性能測試
顯示材料
新型顯示技術，如OLED及AMOLED,為手提電腦、手機及薄屏電視提供了更大的發展潛力。MTS系統為該類產品提供了多種測試方法，如脈沖（顯示保持/Flicker測試）、I-V.C-V及阻抗測試。
MTS多種選項：
- MHV100V高電壓
- MREF采樣/參比模式
- 超微電流測量之MFAfA選項
- MFRA交流性能測試
半導體
半導體材料的電阻率因隨周圍的電場變化而變化，被廣泛應用于PC、整流器、太陽能電池、放大器等。MTS系統的AC與時域測量功能包括I-V、C-V、溫度控制及寬泛的電壓、電流范圍為研究者提供了極大的方便。
MTS多種選項：
- I – V，C – V，Mott-Schottky
- MHV100V高電壓
- MREF采樣/參比模式
- 超微電流測量之MFA fA選項
- MBST 2A大電流選項
- 低溫系統
- MFRA交流性能測試
介電材料
鐵電材料（常用于電子應用， 如PC內存）、壓電材料、陶瓷、聚合物、油品、玻璃以及粘土都屬于介電材料（絕緣體）。MTS系統的高電壓、杰出的電流分辨率及高精度非常適用于測量此類介電材料的電性能。
MTS多種選項：
- I – V，阻抗
- MHV100V高電壓
- MREF采樣/參比模式
- 超微電流測量之MFAfA選項
- 高溫爐或低溫系統
- MFRA交流性能測試
生物材料
利用時域及AC測量技術，MTS系統可用于各種生物材料、成活、科研植入材料、血液、病毒或組織細胞以及藥物在體內傳輸的測量。 雖然不能直接和生物活體相連接，但是廣泛應用于體外測試。
MTS多種選項：
- MREF采樣/參比模式
- 超微電流測量之MFAfA選項
- 低溫系統
- MFRA交流性能測試
儀器配置
| MAT核心模塊 | 模塊 |
| 核心MAT模塊使用的數字信號處理器（DSP），能精準地進行控制和測量。
| MAT 1MHz |
| MFRA頻率響應模塊 | |
| 阻抗、導納、電模數、C-V、Mott-Schottky、介電常數分析，整個頻率范圍（10 μHz to 1 MHz）內采用多種測量技術，MTS均可完成。
多正弦/快速傅立葉轉換(FFT)測量是如此快速，因此可經常在樣品體系改變響應之前完成。
| MFRA 1MHz (10μH z~1MHz) |
| MHV100V高電壓選項 | |
| 標準的MAT核心模塊能提供高達±8V的掃描電壓值，對于很多應用，高電壓也是必須的，如在高阻抗絕緣材料情況下。 MAT和MHV選項可以提供±100 V 范圍內超平滑的掃描電壓、I-V、DC、脈沖測試。自動衰減樣品電壓以滿足MAT核心模塊測量的要求。 MHV能同樣提供峰值為100V的AC峰形，用于樣品阻抗測試，DC及AC信號可以結合用于高壓的C-V、Mott-Schottky、電容及阻抗測試。 | MHV 100 (100V) |
| MREF 樣品/參比選項 | |
| MREF可以提高電介質樣品的AC阻抗的測量精度。電容標樣可以測量系統誤差。 MREF樣品/參比選項通過先測量樣品，再測量一個已知標定過的與參比有相似阻抗值的電容，使用驗證過的電纜來提高電介質材料AC測量的準確度。 參比電容的測量提供準確測量值，消除在樣品測量中由于連接電纜，測量回路所帶來的系統誤差，多個標定的內部參比電容可供選擇用于匹配各類樣品阻抗，如需要，用戶可以采用外部參考模式，使用外部參比電容。 | MREF |
| MFA小電流選項(Femto安培計) | |
| 標準MAT核心模塊能夠達到1pA電流分辨率，這個分辨率對于許多材料測試已足夠。但對于高阻抗材料，如絕緣體、介電材料、陶瓷、納米材料（碳納米管）、半導體材料等，可能需要更為靈敏的電流測量精度。 fA電流測量選項MFA是設計用于解決極小電流(150aA)分析。也可結合與MHV高壓選項使用，以測量阻抗材料(>100TΩ )；也可以與MREF結合提高材料測試精度和重現性。 | MFA |
| MBST-2A 電流放大器選項 | |
| MAT核心模塊提供的標準電流范圍是±100 mA. 對于超導體或半導體測試，如需要更大的電流可通過選購2A內置電流放大器。 MBST選項提供高達±2A的電流輸出，這使得測量樣品上的壓降更為簡便，提供阻抗分辨率達10μΩ。 | MBST-2A |
| 主機插槽選項 | |
| 根據不同的模塊個數，按照預算選擇合適的主機箱。 | Chas 08 、Chas 04 |
| 附件及樣品支架 | |
| 5K-600K低溫系統（含樣品支架及溫度控制器） | 129610A |
| 室溫固體樣品支架，設計用于中溫范圍，測試固體材料。樣品架可以采用2端或4端模式來測試高阻抗或低阻抗樣品。 | 12962A |
| 電極連接附件（10,30,40mm直徑）與12962A配套使用 | 12963A |
| 液體樣品支架 | 12964A |
| 高溫爐 用于離子導體，固體氧化物和固體電解質 |
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| 高壓放大器 為滿足10KV電壓測試，外接放大器，配合內部100V電壓測量，實現對外部樣品高壓測量。 |
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| 探針臺 可與非低溫及低溫探針臺聯用，實現5K-475K的測量 |
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| 軟件 | |
| 系統標準配置軟件 | Modulab MTS 軟件 |
