| 徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102概述 | ||
| Leica EM RES102 通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進行轟擊，以去除樣品表面原子，從而實現(xiàn)對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為：對無機薄片樣品進行離子減薄，使得薄片樣品可被透射電子穿過，從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察；對無機塊狀樣品進行離子束拋光、離子束刻蝕，樣品表面離子清洗及斜坡切割，便于SEM掃描電子顯微鏡觀察樣品內部結構信息。 | ||
| 徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102性能 | ||
| • 優(yōu)異性價比：一臺設備即可為TEM、SEM、LM電鏡檢測提供*試樣， 多種應用功能集于一體，高效并節(jié)約成本 • 安全：所有機械控制、樣品移動實現(xiàn)全自動化，可獲得重復性制樣結果 • 分段冷卻：對溫度敏感樣品得到充分保護，在優(yōu)化條件下進行離子研磨， 保持樣品的原生態(tài) • 操作簡便：內置應用參數(shù)庫，幫助文件，無論是初學者還是后期維護都 十分簡單 | ||
| 技術參數(shù) | ||
| 具有2把離子槍，離子束能量為0.8keV-10keV，相對位置，可分別±45°傾斜，樣品臺傾斜角度-120° 至 210°，離子束加工角度0°至90°，樣品平面擺動角度＜360°，垂直擺動距離±5mm。實際操作參數(shù) 根據(jù)具體應用需要選擇（系統(tǒng)備有參考參數(shù)，也可自行設置參數(shù)并存儲） | ||
| 可選配樣品臺：TEM樣品臺（Φ3.0mm或Φ2.3mm），F(xiàn)IB樣品清洗臺，SEM樣品臺，斜坡切割樣品臺（對樣品35°或90°斜坡切割）等 | ||
| SEM樣品臺可容納zui大樣品尺寸：直徑25mm，高度12mm | ||
| 全無油真空系統(tǒng)，樣品室?guī)в蓄A抽室，保證樣品交換時間＜1分鐘 | ||
| 全電腦控制，觸摸屏操作界面，內置視頻觀察系統(tǒng)，可實時觀察樣品處理過程 | ||
鏈能金相實驗設備南京有限公司
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鑲嵌機
Leica EM RES102 通過離子槍激發(fā)獲得離子束，以一定入射角度對樣品進行轟擊，以去除樣品表面原子，從而實現(xiàn)對樣品的離子束加工。Leica EM RES102主要功能為：對無機薄片樣品進行離子減薄，使得薄片樣品可被透射電子穿過，從而適宜TEM透射電子顯微鏡觀察；對無機塊狀樣品進行離子束拋光、離子束刻蝕，樣品表面離子清洗及斜坡切割
徠卡多功能離子減薄儀-Leica EM RES102 產(chǎn)品信息
