恒溫恒濕試驗箱,又稱恒溫恒濕試驗機(jī)、高低溫濕熱試驗箱、濕熱試驗箱,適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫濕熱試驗的環(huán)境試驗箱設(shè)備,可滿足電工電子產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗 - 高溫試驗/低溫試驗/高低溫循環(huán)試驗/溫度變化試驗/濕熱試驗/恒定濕熱試驗/交變濕熱試驗。
產(chǎn)品介紹
星拓濕熱試驗箱溫濕度相對區(qū)域圖
星拓恒溫恒濕試驗箱設(shè)備證書
計算機(jī)軟件著作權(quán)登記證書:節(jié)能型可程式溫濕度控制系統(tǒng)V1.0
實用新型證書:
一種產(chǎn)品測試用環(huán)境模擬試驗箱 (號:ZL 2017 2 0229840.4)
一種密封型環(huán)境溫度試驗箱裝置 (號:ZL 2017 2 0208862.2)
第三方計量校準(zhǔn)證書:可程式恒溫恒濕試驗箱ATH-1000C(證書編號:HK)
試驗標(biāo)準(zhǔn)及方法
1)GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件;
2)GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;
3)GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
4)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
5)GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 (IEC 60068-2-78:2012, IDT);
6)GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán))(IEC 60068-2-30:2005, IDT);
7)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
8)GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗;
9)GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗;
10)GJB/T 150.9-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第8部分 濕熱試驗。
注:支持非標(biāo)定制