J200 LIBS元素分析系統

系統功能

J200 LIBS元素分析系統為高靈敏度和高準確性分析而設計，許多元素檢測限可達ppm個位數，用于樣品基質中多元素定量定性分析。J200實現了從氫元素到钚元素的測量，包括H、N、O等輕元素以及鹵族等其他傳統分析方法（包括ICP-MS）不能測量的元素。系統設計確保每個激光脈沖的可重復性。

J200 LIBS元素分析系統將LIBS技術和ICP-MS相結合，將剝蝕出的樣品固體微粒直接送入ICP-MS系統做進一步分析，避免酸解等樣品前處理過程帶來的二次污染和誤差引入。同時，實現ppb級至百分含量的測量范圍，還能進行元素空間分布制圖（elements mapping)。系統在分析同位素的同時還能進行主量元素分析。

工作原理

系統采用激光誘導擊穿光譜（LIBS）技術，通過短激光脈沖在樣品表面產生高能等離子體，在等離子體反應過程中，發射出具有離散光譜峰的光，收集這些光進行光譜分析。每種元素與LIBS的某一個或多個譜峰對應，通過鑒定不同的光譜峰，可以快速確定樣品化學組成；峰強度信息可用于量化樣品中元素的含量。隨著化學計量軟件的發展和激光燒蝕應用基礎研究的進步，研究人員正在將LIBS技術應用于各行各業樣品基質的定性和定量分析。

J200 LIBS元素分析系統基于勞倫斯伯克利實驗室30多年激光剝蝕基礎理論研究成果，系統分析快速、可靠、準確、環保，可適應從實驗室到現場再到生產車間的多種應用環境。

檢測范圍

J200 LIBS元素分析系統可分析各種樣品，包括土壤、植物、礦石、生物組織、刑偵材料（玻璃、油墨等）、合金、半導體、絕緣體、塑料、薄涂層和電子材料等等。

檢測元素種類具體包含：

常量元素N, P, K, Ca, Mg, S

微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl等化學周期表上大部分元素

有機元素C、H、O、N

輕元素Li、Be、Na等（ICP-MS難同時測量）

同位素（升級與ICP-MS 聯用)

應用領域

常規土壤元素分析、土壤污染檢測、刑偵微量物證分析、煤粉組分分析、礦石檢測、生物組織分析、農產品分析、合金分析、寶石鑒定、各種材料分析等。

可靠硬件

優化等離子體光收集。J200 LIBS采用的聚光光學設計，將大量的等離子光耦合到檢測模塊，實現高靈敏度測量。

提高分析準確性和可重復性。J200的導航激光和自動傳感器相結合，解決樣品表面凹凸不平導致剝蝕不均的問題。激光穩定閥使到達樣品表面的激光能量穩定一致，系統標配3D全自動操作臺。

系統可升級與ICP-MS連用，在進行LIBS元素分析的同時，將樣品剝蝕顆粒送入ICP-MS系統，實現更多分析。彌補ICP-MS不能測量部分輕元素的不足，也避免了復雜樣品前處理及由此引入的二次污染和誤差。系統可與市面上多數ICP-MS聯用。

系統標配固體樣品室，還可選擇配置氣體或液體樣品室，通過設置可自動切換光路，實現固、液、氣體樣品室自動切換。

系統硬件采用模塊化設計，方便更新。激光器和探測器可根據樣品的種類及用戶研究進行升級。

系統具備兩個成像系統。廣角成像用于整體觀察樣品，確定采樣區域；另一成像系統用于放大樣品選定區域進行采樣。

激光能量和光斑大小連續可調，激光脈沖穩定一致，實現樣品分層剝蝕、夾雜物和微光斑分析（zui小5μm）、元素分布制圖、高精度定量等多種分析。

強大軟件

系統軟件能夠對所有硬件進行控制。提供多種采樣模式，包括直線、曲線、隨機點、網格任意大小和自定義采樣等，通過設置參數，可在無人值守的條件下自動進行大面積采樣。

TruLIBS™數據庫是等離子體發射光譜數據庫，與NIST數據庫相比，TruLIBS™數據庫能快速、準確地識別復雜的元素譜線；各種搜索功能，如波長范圍、元素種類和等離子體激發態，將搜索時間縮短至幾秒；允許用戶直接上傳元素激光誘導特征譜線，進行譜峰的識別和標記。

系統內置的數據分析軟件功能強大、分析速度快。能任意選取譜線及背景，自動計算譜線的凈強度；計算兩個波峰之比；自動計算所有波峰的標準偏差；同步分析文件夾及目錄下的測量數據。多次采樣時，軟件自動統計監測LIBS的強度 ，監控信號質量，獲得準確的定性和定量分析結果。

具有單變量和多變量校準曲線制定功能。單變量標定曲線對于基質較為簡單的樣品分析效果較好；多變量標準曲線用于分析基質較為復雜的樣品，例如土壤、植物樣品等，以減少基質中其它元素對目標元素的干擾，提高分析準確性。

數據分析軟件還整合了PCA、PLS-DA、多參數線性回歸等多種化學統計分析功能，可以對樣品進行快速分類鑒別。

系統軟件還可通過樣品某一特定元素的二維或三維分布制圖，展示樣品的元素空間分布。

產地：美國