DualBeam 顯微鏡

Scios DualBeam

Thermo Scientific™ Scios™ DualBeam™ 是一款高分辨率 DualBeam 分析系統，能以出色的 2D 和 3D 性能分析包括磁性材料在內的眾多樣品。Scios DualBeam 的創新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學院、政府和工業研究環境中的高級研究與分析。

高級檢測技術是 Thermo Scientific™ Scios DualBeam 的核心技術。透鏡內 FEI Trinity™ 檢測技術能夠同時收集所有信號，既節省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數據。創新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。

Scios DualBeam 的材料科學應用

Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復合物和涂層等眾多材料，能夠： 

• 執行高分辨率、高對比度成像，對磁性樣品也不例外 

• 使用 Trinity 檢測套件同步檢測材料、形態和邊緣對比度，從而分析材料的各種屬性 

• 借助漂移抑制光刻，無需制備樣品即可制作具有位置特異性的切片，甚至可以對非導電材料進行操作 

• 生成三維數據立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布，或對裂紋各個方向的應力和應變進行分析 

• 搭配 EasyLift™ 可快速可靠地制備高質量樣品，而且只需最小的電子束能量即可獲得高質量的 S/TEM 結果 

• 針對 DealBeam^™ 常見應用提供的用戶指南和逐步工作流程，使得任何經驗水平的操作員都能即刻上手

•