產(chǎn)品簡介:
高純鍺探測器是近年來發(fā)展極為迅速的一種探測器類型。基本原理是將輻射能量通過高純鍺晶體進行吸收,當射線與高純鍺晶體發(fā)生相互作用時將產(chǎn)生電子——空穴對。由于電子——空穴對的能量較低,所以該種探測器具有能量分辨率高且線性范圍寬等優(yōu)點。
高純鍺探測器:
“優(yōu)化P型”高純鍺探測器:GEM-S/GEM-C/GEM-SP
- 提供三個具有較強針對性的優(yōu)化型探測器;
- 性能指標上綜合了傳統(tǒng)GEM與GMX探測器的優(yōu)勢;能量下限將至3keV;分辨率優(yōu)異;中低能段效率顯著提升;
- 采用超薄可靠接觸極;在常溫下保存不會破壞探測器性能;
- 嚴格保證效率、分辨率、峰形與峰康比等指標,保證探測器晶體生長質(zhì)量;
- 以晶體尺寸定義其型號,同一型號的探測器采用相同的晶體結(jié)構(gòu)和尺寸,從而保證了相當一致的效率曲線。
ORTEC數(shù)字化譜儀的基本特征:
- 一切控制與參數(shù)設(shè)置由計算機進行;
- 數(shù)據(jù)通過率:大于100kcps(DSPEC-Pro大于130kcps);
- 數(shù)字化穩(wěn)譜、數(shù)字化自動極零、自動優(yōu)化、內(nèi)置虛擬示波器和數(shù)字化門控基線恢復等功能;
- 用戶可結(jié)合軟件預置多個核素的MDA,在所以MDA滿足時自動終止計數(shù);統(tǒng)一的即插即用式背面板接口,與DIM / Smart-1匹配,相互間具有良好的互換性與兼容性;