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廣電計量檢測集團股份有限公司

phoenix nanotom m CT檢測系統

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海玖橫儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號phoenix na
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質經銷商
  • 更新時間2024/4/13 15:08:22
  • 訪問次數366
產品標簽:

phoenix nanotom m

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上海玖橫儀器有限公司是一家專業從事儀器儀表研發、生產、銷售及服務的企業。超聲波探傷儀:(EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go 超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀);超聲波測厚儀:(27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀,ETG-100電磁高溫測厚儀);超聲波探頭;定制相控陣探頭;渦流探傷儀:(NORTEC 600渦流探傷儀);硬度計; 內窺鏡:(IPLEX NX奧林巴斯內窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內窺鏡、XLGo 工業視頻內窺鏡GE、XL Detect 工業視頻內窺鏡GE新款、UVin專業紫外視頻內窺鏡、);脈沖發生器:(DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR);合金分析儀:(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表,

光譜儀,測厚儀,探傷儀
phoenix nanotom m CT檢測系統是一個 nanoCT®系統用于科學與工業計算機斷層掃描 (micro ct 與 nano ct) 與廣泛樣品范圍的三維測量。
phoenix nanotom m CT檢測系統 產品信息

phoenix nanotom m CT檢測系統是一個 nanoCT®系統用于科學與工業計算機斷層掃描 (micro ct 與 nano ct) 與廣泛樣品范圍的三維測量。 憑借其專門設計的180千伏/ 15 瓦的帶有內部冷卻和溫度穩定的數字檢測器的高功率納米焦點X射線管,系統實現了廣泛的樣品和應用范圍的*的空間和對比分辨率 - 從小的生物和地質標本,到中等大小的工業組件如注射口或注塑成型的塑料零件 - 也具有金屬嵌體。 CT掃描的全自動執行、再現和分析過程確保了其易用性以及快速和可靠的CT結果。 一旦已掃描,全三維CT信息可使分析具有許多可能 ,例如切片的無損可視化、任意剖視圖、或自動孔隙分析。 

phoenix nanotom m CT檢測系統

特色:

 

主要功能

  • 源于*的溫度穩定的數字GE DXR檢測器 (3072 x 2400 像素)的*的圖像質量用于高動態范圍 > 10,000 : 1

  • 新的開放的180千伏/ 15 瓦高功率納米焦點X射線管具有高達200納米的細節探測能力和內部冷卻 - 

  • 用于三維測量應用的測量束包括:

    • 溫度穩定的機柜

    • 高精確度直接測量系統

    • 操作器的防振

    • 菱形|窗口

    • 2個校準目標

    • phoenix datos|x 2.0 軟件包 “點擊 & 測量CT”與三維 “測量"

     

顧客利益:

  • 廣泛的樣品范圍的*的空間和對比分辨率 - 從小的材料到中等大小的包含3個數量級(0.25毫米到250 毫米樣品尺寸與3 千克 / 6.6 磅樣品重量)的塑料樣品,

  • 三維測量包用于穩定的獲取條件、幾分鐘之內的快速重建和可重復的測量結果

  • 易用性源于系統設計與*的phoenix datos|x 2.0 CT軟件

  • 菱形|窗口可達到*焦點穩定性并以同樣的高圖像質量水平進行快達2倍的數據采集

 

應用:

 

三維計算機斷層掃描

工業X射線三維計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經典應用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。 然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術開辟了在眾多領域的新應用,如傳感器技術、電子、材料科學以及許多其他自然科學。

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SMD感應器的nanoCT®, 尺寸 0805 (2.0 毫米 x 1.2 毫米). 三維X射線圖像顯示了后蓋后的內部線圈。 在任何常規的X光片中,圖層面板都是重疊的,但nanoCT ®成功地將對象逐層顯示。

材料科學

高分辨率計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct)用于檢測材料、復合材料、燒結材料和陶瓷,但也用來對地質或生物樣品進行分析。 材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

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玻璃纖維復合材料的nanoCT ®: 纖維氈(藍色)的纖維方向和基質樹脂(橙色)會顯示出來。 右邊: 樹脂內的空洞會以暗腔出現。 左邊: 樹脂已逐漸消失,以更好地使纖維氈可視化。 氈內的單根纖維是可見的。

傳感器和電氣工程

在傳感器和電子元件的檢測中,高分辨率X射線技術主要用于檢測和評估接觸點、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測半導體元件和電子設備(焊點),而無需拆卸設備。

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nanoCT ®顯示CSP組件的焊接接點。 焊接接點的三維形狀,大約 直徑400微米,空隙分布清晰可見。 焊接接點內部,不同的共晶焊料相是可見的。

測量

用X射線進行的三維測量是可對復雜物體內部進行無損測量的技術。 通過與傳統的觸覺坐標測量技術的對比,對一個物體進行計算機斷層掃描的同時可獲得所有的曲面點 - 包括所有無法使用其他測量方法無損進入的隱蔽形體,如底切。 v|tome|x s 有一個特殊的三維測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準儀器到表面提取模塊,具有可能的大精度,可再現且易于使用. 除了二維壁厚測量,CT體數據可以快速方便地與CAD數據進行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規定尺寸。

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對氣缸蓋3個裝置的CAD 差異分析和測量。

塑料工程

在塑料工程中,高分辨率的X射線技術用于通過探測縮孔、氣泡、焊接線和裂縫并分析漏洞來優化鑄造和噴涂過程。 X射線計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct)提供具有以下物體特點的三維圖像:如晶粒流模式和填料分布,以及低對比度缺陷。

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玻璃纖維增??強塑料樣品的nanoCT ®: 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分布都清晰可見。 纖維大約有10微米寬。

地質 / 生物科學

高分辨率計算機斷層掃描(micro ct 與 nano ct)廣泛用于檢測地質樣品,例如新資源的探索。 高分辨率CT系統以微觀分辨率提供巖石樣本、粘合劑、膠合劑和空洞的三維圖像,并幫助確認特定的樣本特征,如含油巖石中空洞的大小和位置

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碳酸鹽中的分段氣孔(ø 2 毫米)

 

規格:

大管電壓180 千伏
大功率15 瓦
細節檢測能力高達 200nm (0.2µm)
焦測距150mm 到600mm
小體素尺寸< 300nm (0.3µm)
幾何放大倍率 (3D)1.5 倍到 300 倍
大目標尺寸(高 x 直徑)250毫米 x 240毫米 / 9.84" x 9.45"
大物體重量3 千克/ 6.6 磅
圖像鏈7兆像素平板數字檢測器陣列
2D X射線成像不行
三維計算機斷層掃描可以
*的表面提取可以(可選)
CAD 比較+ 尺寸測量可以(可選)
系統尺寸(1980 x 1600 x 900 毫米), (78” x 63” x 35.4”)
系統重量1900千克 / 4189 磅
輻射安全- 全防輻射安全柜,按照德國ROV(附件2 nr. 3)美國性能標準21 CFR 1020.40(機柜X射線系統)
- 曝光率< 1 µSv/h 的排放極限,從可接近表面的10厘米距離測量
15168338725
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