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HiperS-320i全焦面影像校正光柵單色儀/光柵光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京卓立漢光儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024/4/9 11:25:20
  • 訪問次數118
產品標簽:

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北京卓立漢光儀器有限公司是一家集光學、精密機械、電子、計算機技術于一體的高科技企業。卓立漢光自1999年起,通過十年的不斷努力,成長為光電儀器廠商。目前公司的電控位移臺、手動位移臺、光學調整架等產品已經形成產品系列化,規格多元化,國內多家科研單位、激光加工設備廠商、光纖設備廠商在使用我們的產品。2000年推出國內*套量產型三光柵光譜儀后,不斷推出了多套熒光、拉曼、光電探測器光譜響應、太陽能電池檢測等光譜測量系統,廣泛應用在眾多高校和科研院所的研究與試驗,為國家科技創新貢獻了一份力量,產品憑借優良的品質遠銷歐美、東南亞等海外市場。 2005年10月在同行業中*通過ISO9001質量管理體系SGS認證。
         卓立漢光主要生產經營:光譜儀、光譜測量系統、光量測儀器、電控精密位移臺、手動精密位移臺、光學調整架、光學平臺、光學元件等系列產品。
         我們誠心聆聽用戶的需要與批評,作為不斷改進的動力,能讓您滿意卓立漢光的產品及服務,就是我們較大的成就。因此我們以卓立漢光的光機產品提供 “終身保固” 的承諾,來表達我們對產品的信心。我們堅持從設計、零件選型、制造、裝配、檢驗、包裝、運輸、直到售后服務做好*質量保證,就是要讓您 “付有所值”,以合理的價位得到優質的產品,這是我們對您選擇卓立漢光真誠的回報。
        卓立漢光始終以滿足用戶需求為宗旨,分別于上海、 成都、 深圳設立分公司,為用戶提供及時周到的銷售與技術服務。“研發創新、快速反應、優質服務” 是我們的經營理念, 公司*重視優質高效、Z短時間為客戶開發產品及提供技術支持。卓立漢光真誠的希望與國內外同仁攜手合作,為推動我國光電產業迅猛發展做出貢獻。
                   
             

太陽能電池測試儀器(系統)、LED檢測儀器(系統)、光譜儀、光譜測量系統、光量測儀器、電控精密位移臺、手動精密位移臺、光學調整架、光學平臺、光學元件
卓立漢光全新一代全焦面影像校正光譜儀,采用全焦面非對稱影像校正技術,極大程度的抑制多種光學像差,獲得了理想的成像效果,提升了光譜儀的信號強度和分辨率。同時使光譜儀在寬波段范圍內全焦面都擁有極小的像差,呈現出近乎的影像效果,大幅度拓展光譜分析的應用領域,可被用于空間分辨的實驗,實現多通道實時探測。
HiperS-320i全焦面影像校正光柵單色儀/光柵光譜儀 產品信息
產品概述

 

卓立漢光開發的新一代全焦面影像校正光譜儀,采用全焦面非對稱影像校正技術,極大程度的抑制多種光學像差,獲得了理想的成像效果,從而提升了光譜儀的信號強度和分辨率水平。同時使光譜儀在寬波段范圍內全焦面都擁有極小的像差,整個像面上都呈現出近乎的影像效果,大幅度拓展光譜分析的應用領域,可被用于空間分辨的實驗,實現多通道實時探測,極大地提升光譜測試分析質量。
 

HiperS-320i全焦面影像校正光柵單色儀/光柵光譜儀功能及特點

  • 支持雙入口、雙出口的結構配置,自動切換入口/出口,增強光譜測試應用靈活性;
  • 全新設計的三光柵在軸旋轉塔臺方案,提升光柵的有效使用面積,在光譜儀使用范圍內,極大地提升光柵通光效率的一致性;

光柵在軸旋轉光柵利用率提高15%。(1200g/mm光柵,波長550nm位置)

  • 內置光譜分辨率增強技術模塊,進一步提升光譜儀分辨率及影像質量;

啟用分辨率增強模塊,分辨率*大可進一步提升約20%。

  • 采用智能自動聚焦技術,多光柵切換使用時,使光譜儀處于分辨率*佳、影像*佳狀態; 


自動調焦獲取*佳焦平面

 

  • 消像差校正技術的運用,可獲得更高的分辨率和對稱性更好的峰形,提高了光子利用率,也可使波長信息更加**。

  • 采用非對稱結構的全焦面影像校正技術,使光譜儀在寬波段范圍內全焦面呈現出近乎的影像效果,獲得了更好的空間分辨率和光譜分辨率。

注:9芯光纖束/100um芯徑,成像面高度3.8mm

規格參數表(@1200g/mm光柵條件下)

 

型號

HiperS-320i

焦距(mm)

320

相對孔徑

F/4.4

掃描范圍(nm)

0~1430

光譜分辨率(nm)-PMT

0.06

光譜分辨率(nm)-CCD(15um)

0.12

倒線色散(nm/mm)

2.29

波長準確度(nm)

±0.2

波長重復性(nm)

±0.025

*小步距(nm)

0.005

雜散光水平

5×10-5

焦平面尺寸

29 (w) × 14 (h)

光軸高度(mm)

156.3~171.3

光柵規格

68 × 68

光柵臺

三光柵在軸旋轉塔臺

狹縫規格

縫寬0.01-3mm連續手動可調,可選配自動狹縫;逢高2,4,14可更換

外形尺寸(mm)、重量(kg)

591 × 460 × 260 (L × W × H),30kg

通訊接口

標配USB2.0,可選RS-232

 

規格參數表@不同光柵

光柵(g/mm)

2400

1800

1200

600

300

150

倒線色散(nm/mm)

0.91

1.39

2.29

4.87

9.97

20.13

機械掃描范圍(nm)

0~715

0~953

0~1430

0~2860

0~4290

0~11440

掃描步距(nm)

0.0025

0.0035

0.005

0.01

0.02

0.04

狹縫光譜分辨率(nm)

0.03

0.04

0.06

0.12

0.24

0.48

光譜分辨率(nm)-CCD(15um)

0.048

0.073

0.12

0.256

0.523

1.06

CCD單次攝譜范圍(nm@30mm CCD)

26.4

40.3

66.4

141.2

289.1

583.8

波長準確度(nm)

±0.1

±0.15

±0.2

±0.4

±0.8

±1.6

波長重復性(nm)

0.015

0.02

0.025

0.05

0.1

0.4

注1:狹縫光譜分辨率,常規光譜儀在中心波長435.83nm,狹縫寬度10um;

注2:CCD單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為435.83nm下的典型值,隨著中心波長增加,攝譜范圍變窄;

注3:隨著中心波長的增大,倒線色散數值減小,隨著中心波長減小,倒線色散數值增大;

注4:直入狹縫無法配置電動狹縫。

典型型號表

型號

描述

HiperS-3204i

側入口、CCD雙出口

HiperS-3205i

側入口、狹縫直出口

HiperS-3206i

側入口、CCD直出口

HiperS-3207i

側入口、狹縫雙出口

HiperS-3208i

側入口、CCD直出口、狹縫側出口

HiperS-3224i

雙入口、CCD雙出口

HiperS-3227i

雙入口、狹縫雙出口

HiperS-3228i

雙入口、CCD直出口、狹縫側出口

HiperS-3247i

側入口、狹縫雙出口、紫外鍍膜

HiperS-3248i

側入口、CCD直出口、狹縫側出口、紫外鍍膜

注1:本型號系列,為手動狹縫(電動狹縫需要額外選擇)

注2:本型號系列,需要額外選配光柵,*多可配置3塊光柵;

注3:本型號系列,不包含濾光片輪、快門,需要額外選擇附件

光譜儀HiperS-3208i外形尺寸圖:

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