ZA系列原子吸收分光光度計秉承偏振塞曼法和雙檢測器實時校正，新增日立技術，數據結果優異，穩定可靠。原子吸收分光光度計可根據物質基態原子蒸汽對特征輻射吸收的作用來進行金屬元素分析。它能夠靈敏可靠地測定微量或痕量元素。

偏振塞曼背景校正法適用于：石墨爐/火焰/氫化物發生法

開機即可測，基線更穩定。

通過偏振塞曼背景校正可獲得高可靠性的數據。

雙光束雙檢測器實時校正

兩個檢測器同時檢測樣品光束和參比光束，實時的背景校正技術獲得可靠的結果。并且沒有光軸的機械切換，重復性和穩定性更高。新技術：雙注入技術

石墨爐分析時使用雙孔石墨管可有效提高靈敏度。雙孔石墨管使樣品和石墨管的接觸面積更大，提高了熱傳導效率，干燥過程的保持時間縮短，在同樣的分析時間里就可以使用更大的樣品體積進行檢測，從而獲得更高的靈敏度，更低的檢出量。

自動暴沸檢測功能

可提高檢測結果的準確性。自動檢測到暴沸，會在測定結果的數值后面標記“P”。據此，可以確認是否發生暴沸，并及時修正升溫程序。

石墨管自動除殘

可有效減少樣品殘留，提高檢測結果的準確性和重現性。

兩種自動除殘方式：

“加熱”模式，更大加熱時間和冷卻時間；

“溫度程序”模式，儀器內置除殘溫度程序，更高除殘溫度是3000℃。

自動進樣器的連續注入功能

用自動進樣針吸入種試劑后，隔著空氣吸入下一種試劑，循環往復后將全部樣品一次注入C 型石墨管。

可有效減少試劑污染；節省40％進樣時間；獲得相同的檢測結果，所需的基體改進劑的用量或濃度更低。