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HiperS-320i全焦面影像校正光柵單色儀/光柵光譜儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京卓立漢光儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/4/8 9:58:06
  • 訪問次數151
產品標簽:

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北京卓立漢光儀器有限公司成立于1999年,是國內精密光學儀器和精密機械運動與控制技術產品的供應商之一,致力于為廣大光電行業從業者提供針對性的產品及解決方案。 目前公司的位移臺、光學調整架等產品已經形成產品系列化,規格多元化,已廣泛應用于國內高等院校和激光加工設備廠商等生產型企業用戶單位中。自2000年通用型三光柵光譜儀量產后,公司持續推出多個系列的熒光、拉曼、太陽能電池檢測等光譜測量系統,同樣在上述用戶群體中收到歡迎。成立20年來,卓立漢光始終堅持研發創新、快速反應和優質服務的經營理念,取得了穩步發展。目前其在國內擁有300多名員工,在上海、深圳、成都、西安設立分公司,在法國、波蘭、韓國等國家擁有合作關系良好的代理商,構建了覆蓋主要市場的行銷網絡。
卓立漢光全新一代全焦面影像校正光譜儀,采用全焦面非對稱影像校正技術,極大程度的抑制多種光學像差,獲得了理想的成像效果,提升了光譜儀的信號強度和分辨率。同時使光譜儀在寬波段范圍內全焦面都擁有極小的像差,呈現出近乎的影像效果,大幅度拓展光譜分析的應用領域,可被用于空間分辨的實驗,實現多通道實時探測。
HiperS-320i全焦面影像校正光柵單色儀/光柵光譜儀 產品信息
產品概述

 

卓立漢光開發的新一代全焦面影像校正光譜儀,采用全焦面非對稱影像校正技術,極大程度的抑制多種光學像差,獲得了理想的成像效果,從而提升了光譜儀的信號強度和分辨率水平。同時使光譜儀在寬波段范圍內全焦面都擁有極小的像差,整個像面上都呈現出近乎的影像效果,大幅度拓展光譜分析的應用領域,可被用于空間分辨的實驗,實現多通道實時探測,極大地提升光譜測試分析質量。
 

HiperS-320i全焦面影像校正光柵單色儀/光柵光譜儀功能及特點

  • 支持雙入口、雙出口的結構配置,自動切換入口/出口,增強光譜測試應用靈活性;
  • 全新設計的三光柵在軸旋轉塔臺方案,提升光柵的有效使用面積,在光譜儀使用范圍內,極大地提升光柵通光效率的一致性;

光柵在軸旋轉光柵利用率提高15%。(1200g/mm光柵,波長550nm位置)

  • 內置光譜分辨率增強技術模塊,進一步提升光譜儀分辨率及影像質量;

啟用分辨率增強模塊,分辨率*大可進一步提升約20%。

  • 采用智能自動聚焦技術,多光柵切換使用時,使光譜儀處于分辨率*佳、影像*佳狀態; 


自動調焦獲取*佳焦平面

 

  • 消像差校正技術的運用,可獲得更高的分辨率和對稱性更好的峰形,提高了光子利用率,也可使波長信息更加**。

  • 采用非對稱結構的全焦面影像校正技術,使光譜儀在寬波段范圍內全焦面呈現出近乎的影像效果,獲得了更好的空間分辨率和光譜分辨率。

注:9芯光纖束/100um芯徑,成像面高度3.8mm

規格參數表(@1200g/mm光柵條件下)

 

型號

HiperS-320i

焦距(mm)

320

相對孔徑

F/4.4

掃描范圍(nm)

0~1430

光譜分辨率(nm)-PMT

0.06

光譜分辨率(nm)-CCD(15um)

0.12

倒線色散(nm/mm)

2.29

波長準確度(nm)

±0.2

波長重復性(nm)

±0.025

*小步距(nm)

0.005

雜散光水平

5×10-5

焦平面尺寸

29 (w) × 14 (h)

光軸高度(mm)

156.3~171.3

光柵規格

68 × 68

光柵臺

三光柵在軸旋轉塔臺

狹縫規格

縫寬0.01-3mm連續手動可調,可選配自動狹縫;逢高2,4,14可更換

外形尺寸(mm)、重量(kg)

591 × 460 × 260 (L × W × H),30kg

通訊接口

標配USB2.0,可選RS-232

 

規格參數表@不同光柵

光柵(g/mm)

2400

1800

1200

600

300

150

倒線色散(nm/mm)

0.91

1.39

2.29

4.87

9.97

20.13

機械掃描范圍(nm)

0~715

0~953

0~1430

0~2860

0~4290

0~11440

掃描步距(nm)

0.0025

0.0035

0.005

0.01

0.02

0.04

狹縫光譜分辨率(nm)

0.03

0.04

0.06

0.12

0.24

0.48

光譜分辨率(nm)-CCD(15um)

0.048

0.073

0.12

0.256

0.523

1.06

CCD單次攝譜范圍(nm@30mm CCD)

26.4

40.3

66.4

141.2

289.1

583.8

波長準確度(nm)

±0.1

±0.15

±0.2

±0.4

±0.8

±1.6

波長重復性(nm)

0.015

0.02

0.025

0.05

0.1

0.4

注1:狹縫光譜分辨率,常規光譜儀在中心波長435.83nm,狹縫寬度10um;

注2:CCD單次攝譜范圍、倒線色散為中心波長為435.83nm下的典型值,隨著中心波長增加,攝譜范圍變窄;

注3:隨著中心波長的增大,倒線色散數值減小,隨著中心波長減小,倒線色散數值增大;

注4:直入狹縫無法配置電動狹縫。

典型型號表

型號

描述

HiperS-3204i

側入口、CCD雙出口

HiperS-3205i

側入口、狹縫直出口

HiperS-3206i

側入口、CCD直出口

HiperS-3207i

側入口、狹縫雙出口

HiperS-3208i

側入口、CCD直出口、狹縫側出口

HiperS-3224i

雙入口、CCD雙出口

HiperS-3227i

雙入口、狹縫雙出口

HiperS-3228i

雙入口、CCD直出口、狹縫側出口

HiperS-3247i

側入口、狹縫雙出口、紫外鍍膜

HiperS-3248i

側入口、CCD直出口、狹縫側出口、紫外鍍膜

注1:本型號系列,為手動狹縫(電動狹縫需要額外選擇)

注2:本型號系列,需要額外選配光柵,*多可配置3塊光柵;

注3:本型號系列,不包含濾光片輪、快門,需要額外選擇附件

光譜儀HiperS-3208i外形尺寸圖:

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