掃描電鏡(SEM)IT100
日本電子株式會社成立于 1949 年,之前全稱為 Japan Electron Optics Laboratory(日本 電子光學實驗室),簡稱為 JEOL。早在 1947 年,JEOL 便開發出了透射電子顯微鏡 DA-1。隨 后,JEOL 不斷發展,為研發活動設計并制造了科學儀器,這些儀器包括:透射電鏡、 掃描電鏡、電子探針、離子束應用裝置、核磁共振波譜儀、質譜儀等。這些產品和服務保證 了各類研發工作。
從事醫學、生物、生物化學、農業、材料科學、冶金、陶瓷、化學、石油、半導體和電 子產品的專家們已經使用 JEOL 的產品超過 60 年。我們的新產品較之以往更加易于使用,更 有利于生產過程中的。
日本電子以創造和開發為本通過產品貢獻于科學進步和社會發展。
掃描電子顯微鏡SEMIT100通過多點觸控技術和操作軟件，操作直觀簡單。男棖崠テ聊瘓湍懿倏馗髦止δ埽媸時憬蕁Ｐ驢⒌牟僮鶻緱婕蠣饕錐詞故荢EM新手也能輕松獲得高品質的SEM圖像，進行EDS元素分析。配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不僅能獲取高分辨率的圖像，還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器 (DRY SD)，能夠進行定性分析、定量分析、元素面牟肌４送猓鈐氐拇笮腿災行窩誹梢遠雜Ω髦盅貳Ⅻ/div>
JSM-IT100 掃描電鏡介紹及參數規格：
1、使用多點觸摸屏,操作舒適
InTouchScope JSM-IT100 通過多點觸控技術和的操作軟件,操作直觀簡單。只需輕
觸屏幕就能像操作智能手機一樣操控各種功能,舒適便捷。新開發的操作界面簡明易懂,即使是 SEM 新手也能輕松獲得高品質的 SEM 圖像,進行 EDS 元素分析。
2、能適應各種環境的可移動式掃描電鏡
InTouchScope 掃描電鏡,在手邊的 PC 上就可以進行觀察和分析。只要移動觸摸屏,在遠離裝置的地方也能夠進行操作。(無線模式操作為選配件)。InTouchScope 主機只需 AC100V 插座就可以安裝,用腳輪即可移動。
EDS能譜分析
JSM-IT100可擴展EDS分析功能，并為多種探測器預留接口。InTouchScope觸控式掃描電鏡不僅功能全面，而且耐用，能夠很好的滿足不同實驗室的需求。它能夠提供高分辨率，并能夠在高真空和低真空模式下提供系列加速電壓。
利用IT100掃描電鏡，能夠輕松快速獲取高質量的的二次電子和背散射電子像。采用硅漂移探測技術的嵌入式JEOL EDS系統，具有面分布分析、多點分析、自動漂移補償、線掃描、Partial area和Mapping Filter等功能。
掃描電子顯微鏡表面分析儀優點:
①有較高的放大倍數，幾萬~幾十萬倍之間連續可調；
②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；
③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
JSM-IT100型掃描電鏡由真空系統、電子光學系統、樣品室和樣品臺、電子探測器、背散射電子探頭、真空泵、自動穩壓器、專用工具、計算機、操作軟件及附件組成。主要用于材料科學、化學化工、生命科學以及相關領域的研究工作，對各種材料、化工產品、生物制品、非金屬礦及深加工產品等進行觀測。
鎢燈絲掃描電子顯微鏡參數：
1、背散射電子圖像分辨率4nm
2、二次電子圖象分辨率 3nm@30KV
3、加速電壓：0.5-30kV
4、放大倍數：5-300000
5、儀器種類：鎢燈絲
6、背散射電子像：≤5.0nm(20KV)
7、放大倍數：X8～x300000倍
8、真空系統
8.1 真空度：高真空≤0.1mPa
8.2 泵系統：渦輪分子泵1個,機械泵 1個。正常換樣時間小于3分鐘
9、聚光鏡：可變焦距聚焦鏡
10、物鏡： 超級圓錐形物鏡
11、聚焦：自動或手動聚焦
12、物鏡光欄：單一物鏡光欄
