新開發的可快速響應的HT掃描器加之軟件與控制系統設計的優化，成功實現掃描速度比傳統設備快5倍以上。
匠心的探針更換夾具，讓小心翼翼的探針更換操作變得簡捷輕松。
樣品交換時也可保持激光穩定照射懸臂。照射穩定性優異，分析時間也大幅度縮短。
可從不同角度放大拉伸圖像進行確認。鼠標操作簡單，更可進行3D斷面形狀分析。
按照操作指南指導操作順序，使用導航功能直接鎖定觀察位置，實現了SPM的快速簡便的觀察
具備豐富的測定模式和優異的擴展性，可對不同硬度、不同導電性能等各式樣品進行觀察分析。
控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
可以控制樣品和周邊環境，在可控氣氛下進行樣品處理，并直接進行SPM觀察。
選配系統具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。
粒度分析軟件
從圖像數據中選取復數顆粒，對每一顆粒進行特征量的計算，并進行分析、顯示，以及及進行統計處理。
微小部熱分析試驗儀器復合型SPM系統 SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產品）
可以進行樣品表面的三維形貌觀察和點的熱分析。
