X射線光電子能譜儀 產品特點
易操作式多功能選配附件
全自動樣品傳送停放
高性能大面積和微區 XPS 分析
快速精細深度剖析
為電池、半導體、有機器件以及其他各領域提供各方面解決方案
X射線光電子能譜儀 簡單易操作
PHI GENESIS 提供了一種全新的用戶體驗，儀器高性能、全自動化、簡單易操作。
操作界面可在同一個屏幕內設置常規和高級的多功能測試參數，同時保留諸如進樣照片導航和 SXI 二次電子影像精細定位等功能。
X射線光電子能譜儀
PHI GENESIS 提供了 一個簡單、直觀且易于操作的用戶界面，對于操作人員非常友好，
操作人員執行簡單的設置操作即可完成包括所有選配附件在內的自動化分析。
X射線光電子能譜儀 多功能選配附件
原位的多功能自動化分析，涵蓋了從LEIPS 測試導帶到 HAXPES 芯能級激發的全范圍技術，相比于傳統的 XPS 而言，PHI GENESIS 體現了的性能價值。
X射線光電子能譜儀
各方面的優良解決方案
高性能 XPS、UPS、LEIPS、REELS、AES、GCIB 及多種其他選配附件可以滿足所有表面分析需求。
X射線光電子能譜儀
X射線光電子能譜儀 多數量樣品大面積分析
- 多數量樣品大面積分析
- 把制備好樣品的樣品托放進進樣腔室后將自動傳送進分析腔室內
- 可同時使用三個樣品托
- 80mm×80mm 的大樣品托可放置多數量樣品
- 可分析粉末、粗糙表面、絕緣體、形狀復雜等各種各樣的樣品
X射線光電子能譜儀
