GCIB 40是一種40 kV氣體團簇離子束，產生團簇離子聚焦 束，用于需要對分子離子敏感的分析應用。 GCIB在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子方面具 有單獨的的能力。在40千伏電壓下工作的GCIB 40提供了 優(yōu)異的電離產率，進一步增強了分子信號。 GCIB 40具有可選擇的簇大小，從單體到10000多個，斑 點大小小于3µm，是分析完整分子離子的強大工具，具 有高空間分辨率。 可在J105 SIM上使用，或作為選定第三方儀器的升級。 請與我們聯系以獲取更多信息。 

由于離子束和分子信號的丟失，有機樣品的SIMS分析通常會導致碎片。使用GCIB，可以減少損傷，以便對材 料進行分析和深度剖面。 然而，在近束能量（<40 kV）下，GCIB的二次離子產額可能 較低。在更高的能量下操作會產生更高的二次離子產率，同 時仍然保持低損傷特性。 下圖顯示了在分析有機樣品時，離子產額如何與束流能量成 比例。盡管一次離子劑量保持不變，但來自Irganox 1010薄膜 的二次離子信號從20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。 同時，在所有的光束能量中，碎片幾乎保持不變。

• 40 kV氣體團簇離子束，光斑尺寸為3µm。
• 實時集群測量和調整。 
• 從單體到>10000的可選簇。 
• 使用一系列氣體運行，包括 Ar、CO2、Ar/CO2混合氣體。 
• 水源團簇升級可用。