系統采用物質屏蔽與反符合技術聯合降低環境γ輻射和宇宙射線本底,50keV~2000keV積分本底采用反符合后降低10倍以上,同時具有極低的天然核素γ射線峰本底,較通常物質屏蔽的低本底HPGeγ譜儀探測靈敏度顯著提高。此系統的檢測限可達10-1Bq/kg以下。反符合電子學線路,簡單易調試。
系統采用物質屏蔽與反符合技術聯合降低環境γ輻射和宇宙射線本底,50keV~2000keV積分本底采用反符合后降低10倍以上,同時具有極低的天然核素γ射線峰本底,較通常物質屏蔽的低本底HPGeγ譜儀探測靈敏度顯著提高。此系統的檢測限可達10-1Bq/kg以下。反符合電子學線路,簡單易調試。
測量各種類型環境樣品的γ能譜,以確定放射性種類、核素及放射性水平。尤其是分析比活度低于1Bq/kg的樣品,測量級聯γ放射性核素,提高測量精度和縮短檢測周期。
高純鍺探測器:
晶體類型與尺寸:P型同軸優化高純鍺,晶體直徑92mm,厚度81 mm(適合馬林杯樣品的測量)
能量分辨率FWHM:對5.9 keV峰(Fe-55):≤ 1.1 keV;
對 122 keV峰(Co-57):≤ 1.3k eV;
對1.332 MeV峰(Co-60):≤ 2.3 keV
相對探測效率:≥150% 120% 130% 140% 175%(可選)
能量響應范圍:3Kev – 10 Mev
峰康比:≥ 90:1
峰形參數:FW0.1M/FWHM ≤2.0,
FW.02M/FWHM ≤3.1
端窗:超低本底材料封裝,超低本底銅端蓋配合Be窗,直徑108 mm
冷指結構:HJ型冷指,液氮制冷,低本底材料封裝,碳端窗
積分本底:(50keV~2000keV):0.25s-1 (HPGe相對效率99%)。
γ射線峰本底計數率(HPGe相對效率99%):
對63.5 keV ≤0.5×10-3 s-1
對351.9keV ≤0.1×10-3 s-1
對511.0keV ≤1.0×10-3 s-1
對583.2keV ≤0.1×10-3 s-1
對1332 keV ≤0.5×10-3 s-1
對1460.8keV ≤0.5×10-3 s-1
反宇宙射線屏蔽探測器:
大體積井型塑料閃爍探測器,有效包圍內層物質屏蔽和HPGe探測器,對宇宙射線中的μ子等成份具有的探測效率。
超低本底鉛室:
超低本底210Pb 比活度電解鉛+無氧銅多層結構物質屏蔽體,有效鉛屏蔽厚度達18cm帶有通氣孔,可為測量室通入氮氣,進一步降低系統本底,反符合電子學線路,簡單易調試。
液氮裝置:
J型冷指CFG-HJ-108;
冷指延長棒CRE-1;
30升杜瓦瓶DWR-30。
數字化譜儀(DSPEC-50):
2 電子學類型:一體化數字電子學
2 道數:64K道及以上
2 -數據通過率:大于100kcps(低頻抑制器LFR關閉);大于34kcps(低頻抑制器LFR開啟);
2 具有自動化、自動極零(auto-PZ)、零死時間校正(ZDT)和虛擬示波器等功能;
2 具有多道分析和多路(譜)定標功能
2 彩色液晶屏顯示,能隨時顯示探測器高壓狀況、增益/零點穩定性、實時間/活時間和計數率等信息;
2 系統變換增益(存儲器分段):由計算機選擇從512到32K;
2 積分非線性 £±0.025%;微分非線性 £±1%;
2 數字化穩譜器:由計算機控制并穩定增益和零點;
2 增益范圍:*1.6~*380;增益衰減功能,增益可縮小4倍
2 溫度系數: 增益:<35ppm>35ppm>°C ;零點:<3>3>°C;
2 脈沖抗堆積:自動設定域值,脈沖對分辨率為500ns。
2 積分非線性≤0.025%;微分非線性≤1%;
2 數字化穩譜器:由計算機控制并穩定增益和零點;
2 脈沖抗堆積:自動設定域值,脈沖對分辨率為500ns;
解譜軟件GammaVision(A66-B32C)
中文伽瑪譜控制與分析軟件包,在Windows10、Windows7和WindowsXP系統上運行,可以自動或手工操作進行剝譜,以正確地對多核素間干擾進行校正;
用戶控制選定多種預置條件:MDA,統計測量,活時間,實時間,峰面積及譜計數率等;對峰核素加標識,以供操作員控制,求平均活度,選擇性活度報告及MDA報告;安裝次數不受限制。
中文平臺無源效率刻度軟件(GammaClib)
基于Monte Carlo 方法對探測器進行表征,適于在實驗室對水泥、礦石、鋼鐵、氣體、土壤、樹脂等樣品在70keV至7MeV能段內進行無源效率曲線刻度,要求具有的CAD建模能力。
探測器原廠表征及原廠無源效率刻度軟件
以“效率轉換”(efficiency transfer)方法推演其它柱體狀(體源)、平面狀(面源)或馬林杯樣品源等形式樣品的效率刻度曲線;
軟件的精度:測量誤差除方法本身外,還取決于刻度效率曲線所用點源本身的誤差,和各項參數(探測器/樣品盒/樣品)的準確性,誤差水平在3%至4%左右;
方法的可溯源性:如基準效率曲線所用的刻度源為可溯源,則此方法下獲得的測量結果亦可溯源。可在出廠時提供具體探測器(系統)的點源效率曲線;
用戶可定期在實驗室完成探測器的表征,無需返廠,保證探測器在長時間使用發生狀態變化后,刻度的準確性。
低本底鉛室(HPLBS2,適用于HJ型探測器和冷指):
-系統本底:小于2cps(40keV-2MeV)
-鉛室內腔尺寸:28cm直徑×40cm高
-鉛室主體由外到內的構造:9.5mm低碳鋼外襯、101mm老鉛、0.5mm錫和1.6mm軟銅內襯
-鉛室主體外形尺寸:51cm直徑×63cm高
-鉛室支架尺寸:61cm長×61cm寬×77cm高
-凈重量:1134Kg
系統應適應的外部條件
-溫度:5~30℃;
-相對濕度:小于80%;
-系統重量:5噸左右;
-三相交流200~240V, 50Hz,可靠接地。