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廣電計量檢測集團股份有限公司

M2儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱深圳維爾克斯光電有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/3/7 12:07:45
  • 訪問次數158
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深圳維爾克斯光電有限公司是的進口光電代理商,代理的激光、光電、光機械類產品,應用涵蓋物理與光學、化學、材料、生命科學等領域。我們與國內各大高校、研究所、激光設備公司和及精密儀器公司保持著緊密的聯系,提供針對不同應用的專業技術支持。 維爾克斯光電在衍射光學、微光學、太赫茲元件、、光束分析儀、太陽光模擬器、顯微鏡載物臺、紅外熱像儀、電控平移臺、紅外探測器、光學儀器等領域具有多年的產品和技術積累,能夠為用戶提供各種高性價比的解決方案。
M2儀主要滿足用戶對光束質量,束腰位置,束腰直徑,發散角,瑞利長度,腰部對稱性以及像散的分析,同時具備2D/3D建模以及數據導出的功能,包含Excel,World或文本格式導出,方便用戶對檢測數據進行二次處理。以色列DUMA生產的M2 Beam光束質量分析儀采用刀口式分析的原理,可以實現連續激光(CW)的測量,特殊版本使用CMOS傳感器實現脈沖激光的檢測,整體覆蓋220-2700nm波段,其中脈沖......
M2儀 產品信息

       M2儀分為普通版本以及高功率版本,通過配置風冷束流采樣器,可以實現高達4 KW功率的檢測,從而保護探測頭不受功率損傷。   

       由于Beam Analyzer應用刀口式掃描的原理,需要通過刀口截取激光面,因此無法實現對脈沖激光的檢測。為了滿足用戶對測量激光種類的需求,以色列DUMA公司為用戶提供了特殊型號選擇,M2Beam-U3-VIS-NIR。該型號采取CMOS傳感器搭配移動平臺,可以實現對220-1600nm波段脈沖激光的測量,解決了用戶對脈沖激光檢測的需求。刀口式掃描分析原理的測量精度與光束尺寸無關,因此對于微米級的激光束,刀口掃描式分析相比于狹縫或針孔式原理的測量精度略高,M2Beam激光光束分析儀可以實現實時監控激光光束質量,配置USB3.0接口,通過連接移動端,實現數據快速傳輸以及便捷使用。

       以色列DUMA公司提供的M2因子測量儀由七刀口式Beam Analyzer和移動平臺組成,通過采集多個測量面實現對M2因子的測量,整體準確度保持在±5%范圍內,滿足用戶對光束質量參數的需求,主要包括M2因子,發散角以及束腰參數等數據的檢測。

      


M2儀產品規格參數:

-輸入光束

激光質量分析儀

M2Beam

M2Beam U3

技術工藝

刀口式掃描原理,應用Si探測器,InGaAs探測器和增強型InGaAs探測器

USB 3.0接口

CMOS 2.4MP

內置過濾論

光譜響應(nm

SI傳感器:350-1100

InGaAs傳感器:800-1800

Enhanced InGaAs 傳感器:800-2700

VIS-NIR350-1600

UV-NIR220-1350

激光功率范圍

Si100 μW-1 W(帶衰減片)

InGaAs&UV100 μW-5 mW

HP4 kW以下

10μW-100mW,內置濾光輪

HP4 kW

刀口數

7

光束尺寸

帶透鏡高達25mm直徑(Si&UV版本)

束腰到透鏡距離

2.0~2.5

最小2


-掃描裝配附件

材質

透鏡焦距

300mm(在632.6nm時)

透鏡直徑

25mm

掃描次數

140

最小步進尺寸

100μm

掃描長度

280mm


-整機

重量

2.5kg

尺寸

100×173×415 mm

托架

M61/4“固定

機械調整

水平角:±1.5°,垂直角:±1.5°

電纜長度

2.5m



M2儀產品特點:

-可檢測連續激光以及脈沖激光

-的斷層圖像重建技術

-25mm光束尺寸測量

-USB3.0接口快速數據傳輸

-激光質量監控

-可配置采樣器,實現高功率激光檢測

-即插即用,使用便捷



M2因子測量儀訂購信息:

M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)

M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based

M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.

SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams



關鍵詞:傳感器
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