Photon TechSystemPhts大面積紅外激光觀察卡
吸收光譜范圍：0.75~2.13um，光譜靈敏性高
激光雷達和測距儀都可以用于距離探測，其中激光雷達可作為大氣探測，它們是應用較為廣泛的激光應用技術。因為他們的光路區別于一般的小型光路，所以具有較為苛刻的對準和校準條件，且因為系統不同，一般的校準光路只能校準一種光學系統，不具有普遍性。
如上圖，Photon TechSystem （簡稱Phts）生產的EL系列發光屏能夠將不可見光顯示出來，且這種大面積紅外調光片（大面積紅外顯示卡）的有效面積超過1平方米，可用于測距儀、大地測量儀器、激光雷達和特殊設備等大孔徑光束的激光系統。其特點：進行大活動區域的展示臺的對齊，且能夠在各種天氣條件下工作，吸收光譜范圍：0.75~2.13um，光譜靈敏性高，可以在很大程度上減輕客戶的調試難度。這種大面積紅外調光片又叫做大面積倍頻片，大型激光觀察卡，大面積紅外顯示卡，激光雷達紅外激光觀察卡，大面積紅外激光探測卡、紅外觀察卡等等。
如果激光雷達采用較大的接收視場來確保即使收發光軸偏離也能接收到信號的話，那么會引入較大的背景光噪聲，影響探測精度，降低探測效率，這對于要求越來越高的光學應用來講，是不可接受的。所以激光雷達一般會設計非常小的發散角的激光發射和非常窄的視場接收角，來保證探測精度，但較大提高了對準精度。
但雷達發出的光線是不可見光，不能被人眼所觀察，所以只能借助光學系統進行校準。為了提高對準精度，研究人員設計了自動對準裝置，目前的自動對準裝置通常在接收光學系統的后端設置ccd或cmos等面陣成像器件，用分光或者切換光路的方法，使回波光或共光路指示光成像在上述面陣器件上，對比面陣器件上的光斑像與接收視場的校準關系來衡量失配量，以此來微調激光發射軸或接收視場光軸完成收發匹配。但該系統會損失部分接收光，且系統較為復雜。但如果你換了個其他大型雷達光路，就需要設計不同的校準光路，不具有兼容性。
一般雷達系統的校準設備會受到天氣的影響較大。在大霧或暴雨等惡劣天氣時光路與天氣良好時不一致，會誤導調試人員；受環境影響和熱脹冷縮的作用，光束會在一定范圍內波動。這些都是無法輕易獲得的信息，會給用戶帶來不便和困擾。 所以Photon TechSystem 生產的EL系列發光屏能夠將不可見光顯示出來
Photon TechSystem大面積紅外激光探測卡規格：
| 型號 | Luminescent Screens EL1 | Luminescent Screens EL2 | Luminescent Screens EL4 |
| 聚合物類型 | IR1 | IR2 | IR4 |
| 屏幕區域面積（m2） | >1 | ||
| 吸收光譜范圍（um） | 0.75~1.5 | 0.75~2.13+ | 0.78~1.07、1.45~1.64 |
| 損傷閾值 | >700 mW/cm2 | ||
| 光譜靈敏性（uW/cm2） | <6 (@808nm)、 | <20 (@808nm) | <2 (@808nm) |
| 發射顏色 | 紅橙色 | 紅色 | 綠色 |
| 發射需要充電 | 是 | 是 | 否 |
Photon TechSystem激光雷達紅外激光觀察卡特點和優點
- 高防潮性和高機械特性；
- 屏幕能夠在各種天氣條件下在現場工作；
- 工作溫度范圍很廣，從 -40 oC 到 +50 oC 以上；
- 高光譜靈敏度；
- 可提供定制尺寸。
大面積紅外激光探測卡應用：
-激光雷達
-測距儀
-大地測量儀
