掃描電子顯微鏡在金屬腐蝕與防護(hù)研究中的應(yīng)用實例
掃描電子顯微鏡(SEM)廣泛應(yīng)用于材料、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)、生物、考古、石油、刑偵、造紙、紡織等研究領(lǐng)域。由于操作方便,制樣簡單,景深大,成像富有立體感,SEM已成為表面分析...
VEGA3 SBH-Easyprobe
高真空型SEM,配備有3軸馬達(dá)驅(qū)動樣品臺,適用于觀察小型導(dǎo)電樣品。同時可完成元素分析。
VEGA3 SBU-Easyprobe
可變真空型掃描電鏡,體現(xiàn)了高真空模式和低真空模式的優(yōu)點,可以在不噴金的情況下利用低真空模式直接觀察不導(dǎo)電樣品。同時可完成能譜分析。
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