1、高分辨率-無論何時,無論哪次
在樣品上每個原子實現力掃描
點缺陷的高分辨三維尺寸和機械性能成像
2、釋放帶寬實現更快成像
通過快速輕敲,不降低效果的同時增加掃描速度
采用雙向掃描選項即刻實現成像速度翻倍
采用布魯克專有的高速探針,結合已知規程(BKM)可將掃描速度提高10倍
3、完整的納米尺度定量信息
可信的納米級粘彈性表征
常規地獲得高質量力學性能數據
4、獲取納米力學和納米化學數據的高級AFM研究
在之前不可能研究的樣品上研究電學性能
獲取整體力學數據,從而全面表征接觸力學機制
5、潛力無限-靈活,開放
使研究人員通過PeakForce Tapping®技術獲得高分辨率圖像
先使用已有的測量模式;如果沒有,創造一個
在開放的平臺上直接進行改造, 與其它技術聯用
6、超乎想象的簡單
NanoScope®是被世界認可的,被廣泛引用的原子力顯微鏡