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Park NX-HDM|原子力顯微鏡|韓國帕克

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海百賀儀器科技有限公司
品牌
型號Park NX-HD
所在地
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2024/2/10 17:45:52
訪問次數(shù)135

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上海百賀儀器科技有限公司成立于上海。在中國銷售網(wǎng)絡(luò)，以華東地區(qū)為中心，面向全國各地。是集售前支持和售后服務(wù)為一體的技術(shù)型企業(yè)。公司專業(yè)代理銷售*的材料測試儀器，產(chǎn)品來自歐、美、日等在行業(yè)內(nèi)的設(shè)備供應(yīng)商。公司擁有行業(yè)內(nèi)經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)人員與專業(yè)化服務(wù)團(tuán)隊(duì)，可提供有效的設(shè)備技術(shù)，乃至實(shí)驗(yàn)室整體解決方案。

目前我們的主要業(yè)務(wù)包括

力學(xué)測量儀器在中國市場的銷售,；
光學(xué)測量儀器在中國市場的銷售；
光譜分析儀器在中國市場的銷售；
精密量具在中國市場的銷售；
環(huán)境模擬評估儀器的開發(fā),實(shí)施；
金屬材料領(lǐng)域試驗(yàn)室整體解決方案；
橡塑材料領(lǐng)域試驗(yàn)室整體測試解決方案；
模具制造領(lǐng)域試驗(yàn)室整體解決方案；
其他國外儀器產(chǎn)品在中國市場的銷售；

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色譜儀

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷識(shí)別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動(dòng)缺點(diǎn)檢查通量會(huì)大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)低的本底噪聲的True Non-Contact™技術(shù)，Pa......

Park NX-HDM|原子力顯微鏡|韓國帕克產(chǎn)品信息

Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement
對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷識(shí)別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動(dòng)缺點(diǎn)檢查通量會(huì)大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Higher Throughput, Automatic Defect Review
對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷識(shí)別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動(dòng)缺點(diǎn)檢查通量會(huì)大幅提高。

Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業(yè)內(nèi)對于超平媒介和基體的要求越來越高，所以需要滿足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Automatic Defect Review for Media and Substrates
Higher Throughput, Automatic Defect Review
NX-HDM的自動(dòng)缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基體缺陷的識(shí)別、掃描和分析流程。借助光學(xué)檢查工具所提供的缺陷位置圖，Park ADR可自動(dòng)定位這些位置并進(jìn)行成像（分兩步）：
(1) 縮小掃描成像，以準(zhǔn)確定位缺陷。
(2) 放大掃描成像，以獲取缺陷的細(xì)節(jié)。在真實(shí)缺陷測試中，我們可以看到相比于傳統(tǒng)的方法，該自動(dòng)功能可將缺陷檢查通量提高10倍。

Automated Search Scan & Zoom-in Scan
經(jīng)過優(yōu)化的掃描參數(shù)讓兩步式掃描更為快速：
(1) 快速的低分辨率搜尋式掃描，來準(zhǔn)確定位缺陷。
(2) 高分辨率的放大掃描，來獲取缺陷的細(xì)節(jié)。可調(diào)節(jié)的掃描尺寸和掃描速度參數(shù)能滿足用戶的所有需求。

Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM
借助的映射算法，從自動(dòng)光學(xué)檢測(APO)工具中獲取的缺陷坐標(biāo)圖可準(zhǔn)確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術(shù)讓全自動(dòng)高通量缺陷成像成為可能。

Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool

Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness Measurement
Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業(yè)內(nèi)對于超平媒介和基體的要求越來越高，所以需要滿足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode

探針磨損更低=高分辨率掃描更長久

無損式探針-樣品接觸=樣品變化程度最小

避免參數(shù)依賴

Tapping Imaging

探針磨損更快=掃描圖像模糊

破壞性探針-樣品接觸=樣品受損變化

高參數(shù)依賴性

Accurate AFM Topography with Low Noise Z Detector
True Sample Topography™ without piezo creep error
形貌使用了低噪聲Z軸探測器信號
寬帶寬下0.02 nm的低Z軸探測器噪聲
Park NX AFM

no-creep-effect

前沿和后沿?zé)o過沖
只需出廠前進(jìn)行一次校準(zhǔn)

Conventional AFM

creep-effect

Automatic Measurement Control
自動(dòng)化軟件讓NX-HDM的操作不費(fèi)吹灰之力。測量程序針對懸臂調(diào)諧、掃描速率、增益和點(diǎn)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，為您提供多位置分析。自動(dòng)化軟件會(huì)按照測量文件中預(yù)設(shè)的程序進(jìn)行樣品測量。Park的用戶友好型軟件界面讓用戶可靈活執(zhí)行全系統(tǒng)功能。創(chuàng)建新測量文件只需要10分鐘左右的時(shí)間，而修改現(xiàn)有的測量文件則需要不到5分鐘的時(shí)間。

Park NX-HDM具有：
自動(dòng)、半自動(dòng)和手動(dòng)模式
各自動(dòng)程序的可編輯測量方法
測量過程實(shí)時(shí)監(jiān)測
自動(dòng)分析所獲取的測量數(shù)據(jù)

Automatic-Measurement-Control