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Park NX-HDM|原子力顯微鏡|韓國帕克

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱上海百賀儀器科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號Park NX-HD
  • 所  在  地
  • 廠商性質經銷商
  • 更新時間2024/2/10 17:34:15
  • 訪問次數113
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上海百賀儀器科技有限公司由上海佰衡儀器科技有限公司組建而來。多年來佰衡儀器精心研發(fā)制造各種試驗機、試驗箱及非標準設備,服務于全國各大企業(yè)院所,是一家技術型的生產廠家。為了更好服務客戶,滿足用戶一站式的采購需求,上海百賀儀器順勢而生,并與國內外多家優(yōu)秀儀器供應商*保持良好穩(wěn)定的合作關系,能夠在產品價格、技術服務、儀器維修、配件供給、軟件升級等方面得到更多的支持,讓客戶獲取更多的增值服務。
      
上海百賀儀器科技有限公司秉承‘佰衡儀器’的經營理念,一直致力于提升中國實驗室檢測水平,作為專業(yè)化的儀器公司,我們能為您提供更全面、更優(yōu)質、更專業(yè)的實驗室解決方案。百賀儀器的產品及服務涉及金屬、橡膠、塑料、石油、建筑材料、汽車、電子、電工、家電、醫(yī)療、包裝印刷等諸多領域,享譽八方。
百賀儀器堅持“客戶*,服務*”的服務理念,崇尚“誠信、奉獻、共贏”的企業(yè)價值觀,勵精圖治,開拓進取。公司由一支充滿活力的高素質開拓型團隊組成,技術過硬,經驗豐富,可以滿足不同客戶的需求,為客戶提供周到、熱情、滿意的服務。不論是售前還是售后服務,百賀儀器都力求嚴謹、及時、全面;換位思考,仔細傾聽,做客戶忠實的顧問式伙伴。
 
百賀儀器的承諾:*的品質,專業(yè)的服務。
百賀儀器的目標:您Z貼心的實驗儀器供應商。
顯微鏡,拉力試驗機,硬度計,高低溫試驗箱,磨拋機,切割機,玻璃紙
對于媒介和基體領域的工程師而言,識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數量級實現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析,從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接,這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內低的本底噪聲的True Non-Contact™技術,Pa......
Park NX-HDM|原子力顯微鏡|韓國帕克 產品信息

Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement
對于媒介和基體領域的工程師而言,識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數量級實現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析,從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接,這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內的本底噪聲和的True Non-Contact™技術,Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Higher Throughput, Automatic Defect Review
對于媒介和基體領域的工程師而言,識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數量級實現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析, 從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接,這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。


Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業(yè)內對于超平媒介和基體的要求越來越高,所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內的本底噪聲和的True Non-Contact™技術,Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Automatic Defect Review for Media and Substrates
Higher Throughput, Automatic Defect Review
NX-HDM的自動缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基體缺陷的識別、掃描和分析流程。借助光學檢查工具所提供的缺陷位置圖,Park ADR可自動定位這些位置并進行成像(分兩步):
(1) 縮小掃描成像,以準確定位缺陷。
(2) 放大掃描成像,以獲取缺陷的細節(jié)。在真實缺陷測試中,我們可以看到相比于傳統(tǒng)的方法,該自動功能可將缺陷檢查通量提高10倍。

Automated Search Scan & Zoom-in Scan
經過優(yōu)化的掃描參數讓兩步式掃描更為快速:
(1) 快速的低分辨率搜尋式掃描,來準確定位缺陷。
(2) 高分辨率的放大掃描,來獲取缺陷的細節(jié)??烧{節(jié)的掃描尺寸和掃描速度參數能滿足用戶的所有需求。

Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM
借助的映射算法,從自動光學檢測(APO)工具中獲取的缺陷坐標圖可準確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術讓全自動高通量缺陷成像成為可能。

Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool

Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness Measurement
Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業(yè)內對于超平媒介和基體的要求越來越高,所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內的本底噪聲和的True Non-Contact™技術,Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量確的原子力顯微鏡。

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode

探針磨損更低=高分辨率掃描更長久

無損式探針-樣品接觸=樣品變化程度最小

避免參數依賴

Tapping Imaging

探針磨損更快=掃描圖像模糊

破壞性探針-樣品接觸=樣品受損變化

高參數依賴性

Accurate AFM Topography with Low Noise Z Detector
True Sample Topography™ without piezo creep error
形貌使用了低噪聲Z軸探測器信號
寬帶寬下0.02 nm的低Z軸探測器噪聲
Park NX AFM

no-creep-effect


前沿和后沿無過沖
只需出廠前進行一次校準

Conventional AFM

creep-effect

Automatic Measurement Control
自動化軟件讓NX-HDM的操作不費吹灰之力。測量程序針對懸臂調諧、掃描速率、增益和點參數進行優(yōu)化,為您提供多位置分析。自動化軟件會按照測量文件中預設的程序進行樣品測量。Park的用戶友好型軟件界面讓用戶可靈活執(zhí)行全系統(tǒng)功能。創(chuàng)建新測量文件只需要10分鐘左右的時間,而修改現(xiàn)有的測量文件則需要不到5分鐘的時間。

Park NX-HDM具有:
自動、半自動和手動模式
各自動程序的可編輯測量方法
測量過程實時監(jiān)測
自動分析所獲取的測量數據

Automatic-Measurement-Control

Ionization System
離子化系統(tǒng)可有效地消除靜電電荷。由于系統(tǒng)隨時可生產和位置正離子和負離子之間的理想平衡,便可以穩(wěn)定地離子化帶電物體,且不會污染周邊區(qū)域。它也可以消除樣品處理過程中意外生成的靜電電荷。

NX-HDM Ionization-System

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