TMS是一套全波長的0度角透過率檢測儀,能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。
TMS透過率檢測儀-技術參數
型號 | TMS(I型) | TMS(Ⅲ型) |
探測器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
檢測范圍 | 380-1000nm | 360-1100nm |
波長分辨率 | 1nm | 1nm |
信噪比(全信號) | 250:1 | 1000:1 |
相對檢測誤差 | ﹤0.5%(400-800nm) | ﹤0.2%(400-800nm) |
單次測量時間 | ﹤1s | |
樣品尺寸 | ≥ Φ1mm | |
操作系統/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
電源/功率 | 220V-50HZ /6W |
TMS透過率檢測儀-的軟件設計
l 智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據,自動調整顯示坐標范圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
l 譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,地方便了譜圖的管理和分析。
l 自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。
l 譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫,可根據數據庫已存標準數據對比分析結果,用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數據導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
l CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數, x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。
l 數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。