衍射軸錐鏡|平錐透鏡，將高斯光束轉換為貝塞爾高斯光束，高損傷閾值
立陶宛WOP 錐透鏡的典型型號
| 工作波長（nm） | 通光孔徑（mm） | 產品編號 |
| 343/355 | 2 4 6 8 10 15 | CG-0343-02-XXX.X CG-0343-04-XXX.X CG-0343-06-XXX.X CG-0343-08-XXX.X CG-0343-10-XXX.X CG-0343-15-XXX.X |
| 488 | 2 4 6 8 10 15 | CG-0488-02-XXX.X CG-0488-04-XXX.X CG-0488-06-XXX.X CG-0488-08-XXX.X CG-0488-10-XXX.X CG-0488-15-XXX.X |
| 515/532 | 2 4 6 8 10 15 | CG-0515-02-XXX.X CG-0515-04-XXX.X CG-0515-06-XXX.X CG-0515-08-XXX.X CG-0515-10-XXX.X CG-0515-15-XXX.X |
| 632 | 2 4 6 8 10 15 | CG-0632-02-XXX.X CG-0632-04-XXX.X CG-0632-06-XXX.X CG-0632-08-XXX.X CG-0632-10-XXX.X CG-0632-15-XXX.X |
| 780/800 | 2 4 6 8 10 15 | CG-0800-02-XXX.X CG-0800-04-XXX.X CG-0800-06-XXX.X CG-0800-08-XXX.X CG-0800-10-XXX.X CG-0800-15-XXX.X |
| 1030/1064 | 2 4 6 8 10 15 | CG-1030-02-XXX.X CG-1030-04-XXX.X CG-1030-06-XXX.X CG-1030-08-XXX.X CG-1030-10-XXX.X CG-1030-15-XXX.X |
| 1550 | 2 4 6 8 10 15 | CG-1550-02-XXX.X CG-1550-04-XXX.X CG-1550-06-XXX.X CG-1550-08-XXX.X CG-1550-10-XXX.X CG-1550-15-XXX.X |
* 產品 ID 說明：CG-YYYY-ZZ-XXX.X
CG – 圓形光柵
YYYY – 波長
ZZ – 通光工作孔徑
XXX.X – 頂點角在 175.0°-179.9° 范圍內（頂點角于衍射周期，取決于波長）
** 可根據要求提供定制設計。
立陶宛WOP錐透鏡的優勢特點
- 立陶宛WOP錐透鏡正負貝塞爾高斯區 - 3 合 1 使用可能性。
- 立陶宛WOP衍射軸錐鏡可適用于高 LIDT 應用和高功率激光器。
- 立陶宛WOP平面軸錐鏡的平面光學特性——節省空間，易于操作。
- 立陶宛WOP平面軸錐鏡擁有可靠和耐久的表面——結構在主體內部
立陶宛WOP平錐透鏡的應用
- 微加工
- 超高縱橫比微孔鉆削
- 90% 的高效率布拉格光柵
- 切割透明材料
立陶宛WOP圓形光柵、衍射軸錐鏡的技術特點
- 材質：UVFS、IRFS
- 波長范圍：330nm 至 2000nm
- 最小頂角：176-179.9° @1030 nm
- 衍射效率：高達 95%
- 元件尺寸： 15 毫米
- 涂層（可選）：AR/AR 涂層
- 錐尖直徑的不確定性：~20 µm
- LIDT | 高傷害閾值：
63 J/cm2 @1064 nm，10ns；
2 J/cm2 @1030 nm, 212fs
- 透射率（無增透膜）：
85% @343 nm,
92% @515 nm，94% @1030 nm
圓形光柵可以產生正負貝塞爾高斯區，分別具有 LHCP 和 RHCP 偏振。此外，正區和負區同時具有線性偏振，工作狀態僅取決于入射極化。
正貝塞爾高斯區(入射光偏振 > 左手圓形 - 模擬凸軸錐) 負貝塞爾高斯區(入射光偏振 > 右旋圓形 - 模擬凹軸錐)
正貝塞爾高斯區(入射光偏振 > 左手圓形 - 模擬凸軸錐) 負貝塞爾高斯區(入射光偏振 > 右旋圓形 - 模擬凹軸錐)
LIDT損傷閾值測試設備:
測試設置：
激光器及其參數：
| 激光器及其參數： | |
| 類型 | Mode-locked Yb:KGW |
| 制造廠商燈光轉換 | |
| 型號 | Pharos SP |
| 中心波長 | 1030.0 nm |
| 入射角 | 0.0 deg |
| 偏振狀態 | 線性 |
| 脈沖重復頻率 | 100 Hz |
| 目標平面中的空間光束輪廓 | TEM00 |
| 目標平面中的光束直徑 (1/e2) | (100.5 ± 1.2) μm |
| 縱向脈沖輪廓 | 單縱模 |
| 脈沖持續時間(FWHM) | 212.4 fs（假設為高斯脈沖形狀） |
| 脈沖間能量穩定性 (SD) | 0.6 % |
光束特征（Beam profile） 脈沖圖（Pulse profile）
LIDT損傷閾值測試規范
定義和測試描述：
激光引起的損傷 (LID) 定義為任何性激光輻射引起的樣品表面/主體特性的變化，可以通過檢測技術觀察到，并且靈敏度與相關產品的預期操作相關。 激光誘導損傷閾值 (LIDT) 定義為入射到光學元件上的激光輻射量，其外推損傷概率為零。
1、通過執行標準化的 S-on-1 測試程序來研究樣品的 LID。
2、LIDT 值是通過取未觀察到損壞之前的注量值和觀察到損壞時的注量值的平均值來確定的。
