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非接觸式金屬膜厚測量儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海昊量光電設備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/2/2 14:40:44
  • 訪問次數191
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上海昊量光電設備有限公司是目前國內光電產品專業代理商,也是近年來發展迅速的光電代理企業。除了擁有一批專業技術銷售工程師之外,還有擁有一支強大技術支持隊伍。我們的技術支持團隊可以為客戶提供完整的設備安裝,培訓,硬件開發,軟件開發,系統集成等工作。不但為客戶提供適合的產品,而且為客戶提供完善的服務是我們始終秉承的理念!

自2008年成立以來,昊量光電專注于光電領域的技術服務與產品經銷,致力于引進國外很具*性與創新性的光電技術與可靠產品,為國內前沿的科研與工業領域提供優質的產品與服務,助力中國智造與中國創造! 目前,昊量光電已經與來自美國、歐洲、日本的多家光電產品制造商建立了緊密的合作關系。其代理品牌均處于相關領域的發展前沿,產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、精密光學元件等,所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究與國防等。

昊量光電堅持“專業源自專注,專注成就未來”的經營理念。近年來,我們專注于前沿的細分市場,為量子光學、生物顯微、物聯傳感、精密加工、*激光制造等領域的客戶提供系統解決方案。

秉承誠信、高效、創新、共贏的核心價值觀,昊量光電堅持以誠信為基石,憑借高效的運營機制和勇于創新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創造價值,實現各方共贏!

立足于光電產業,昊量光電始終堅持價值創造與創新,贏得客戶與合作伙伴的認可,不斷拓展業務領域的新邊疆,立志打造國際的代理服務品牌!

非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries,這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量,對導電薄膜的膜厚精確測量,表征已被隱藏和封裝的導電層,并把測量數據保存和導出
非接觸式金屬膜厚測量儀 產品信息

非接觸式金屬膜厚測量儀


昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series,這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量,對導電薄膜的膜厚精確測量,表征已被隱藏和封裝的導電層,并把測量數據保存和導出。


非接觸式金屬膜厚測量儀主要測試對象:

  • 鍍膜建筑玻璃,如LowE

  • 顯示器,觸摸屏和平板顯示器

  • OLED和LED

  • 智能玻璃

  • 石墨烯層

  • 光伏晶圓和電池

  • 半導體晶片

  • 金屬化層和晶圓金屬化

  • 電池電極

  • 導電涂布紙和導電紡織品


單點金屬膜厚測量儀EddyCus TF lab 2020MT


單點金屬膜厚測量儀EddyCus TF lab 2020MT可以對透明和非透明層的非接觸金屬厚度進行測量。測量是通過非接觸式渦流傳感器實現的。它可以實時地對已知或確切的常數電導率的材料的進行厚度測量。這種非接觸測試技術能夠在較寬的厚度范圍內進行精確測量,從幾納米厚度開始,一直到厚金屬板的表征。電渦流技術還能夠對被有害材料覆蓋的金屬層進行表征。單點金屬膜厚測量儀也可以為非常薄的膜層以及非常厚的金屬和普通合金提供特定的材料設置。該測量方法具有的魯棒性和高重復性和高精度。此外,它不需要任何光學透明度,也不用物理接觸。

軟件和設備控制:

  • 非常用戶友好的軟件

  • 直觀的觸摸顯示導航

  • 實時測量板材電阻和層厚

  • 軟件輔助手動映射選項

  • 各種數據保存和導出選項


非接觸式金屬膜厚測量儀規格參數:

Measurement technologyNon-contact eddy current sensor
SubstratesFoil, glass, wafer, etc.
Substrate area8 inch / 204 mm x 204 mm (open on three sides)
Max. sample thickness/ sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)
Metal thickness range
Accuracies depend on the selected setup and the type /
conductivity of the metal (e.g. copper, aluminum, silver)
Low             1 – 10 nm; 2 – 5 % accuracy
Standard    10 – 1,000 nm; 1 – 3 % accuracy
High            1 – 100 µm; 0.5 – 3 % accuracy
Metal thickness calibrationDirect thickness calibration / sheet resistance conversion
Device dimensions (w/h/d)11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mm
Weight10 kg
Further available features / other tool configurationsSheet resistance measurement / conductivity / resistivity / electrical anisotropy / permeability (beta)


非接觸式金屬膜厚成像測量儀EddyCus TF map 2530MT

    

非接觸式金屬膜厚成像測量儀EddyCus TF map 2530MT是一種非接觸式厚度成像系統。這款金屬膜厚成像設備利用非接觸式渦流傳感器來確定任何已知電導率或特征電導率剖面,如金屬或合金材料的厚度。這種非接觸式測試技術可以在較寬的厚度范圍內進行精確測量,厚度范圍從幾納米到毫米。此外,它還可以應用于非導電材料封裝的薄膜。該測量方法具有良好的魯棒性和較高的重復性和精度。它不受光學特性的影響,有利于各種生產非透明金屬薄膜的行業。這種緊湊的臺式系統用于制造研發和測試實驗室的快速測試或系統質量保證的廣泛應用。

軟件和設備控制:

  • 非常用戶友好的軟件

  • 實時映射測量

  • 易于使用的統計分析選項

  • 預定義的測量和產品配方(尺寸、音高、閾值)

  • 直線掃描,直方圖和區域分析

  • 黑色和彩色圖像編碼

  • Csv & PDF導出

  • PC匯總導出

  • 用于參數轉換的材料數據庫

  • 邊緣效應的補償

  • 數據的存儲和導入

  • 導出數據集(如eddyva, MS Excel, Origin)

非接觸式金屬膜厚測量儀規格參數:

Measurement technologyNon-contact eddy current sensor
SubstratesWafer, glass, foil, etc.
Max. scanning area12 inch / 300 mm x 300 mm (larger upon request)
Edge effect correction / exclusion2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements) 
Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)
Metal thickness range
Accuracies depend on the selected setup and the type /
conductivity of the metal (e.g. copper, aluminum, silver)
Low             1 – 10 nm; 2 – 5 % accuracy
Standard    10 – 1,000 nm; 1 – 3 % accuracy
High            1 – 100 µm; 0.5 – 3 % accuracy
Metal thickness calibrationDirect thickness calibration / sheet resistance conversion
Sheet resistance range (optional)0.1 mOhm/sq – 100,000 Ohm/sq (in 5 ranges)
Scanning pitch (X and Y)1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm 
Scanning time8 inch / 200 mm x 200 mm in 1.5 to 15 minutes (1 – 10 mm pitch)
12 inch / 300 mm x 300 mm in 2 to 15 minutes (2.5 – 25 mm pitch)
Device dimensions (w/h/d) / weight31.5” x 19.1” x 33.5” / 785 mm x 486 mm x 850 mm / 90 kg
Further available features / other tool configurationsSheet resistance measurement / conductivity / resistivity / anisotropy / permeability (beta)


手持式金屬膜厚測量儀EddyCus TF portable1010

手持式金屬膜厚測量儀EddyCus TF portable1010一種方便和便攜的測量設備,用于生產或現場的大型玻璃和金屬箔的快速接觸測量,例如在制造后的快速質量檢查或作為來料良好的檢查。手持設備允許測量甚至隱藏和封裝層。這是一個易于使用的設備,通過觸摸顯示器控制。

  • 手工質量控制,進料檢驗,出料檢驗

  • 導電材料的接觸表征

  • 單點接觸測量(要求恒距離測量)

  • 150 x 150毫米的平面表面(50 x 50毫米和100 x 100毫米可選)


Measurement technologyEddy current sensor
Measurement modeRealtime at constant distance / contact
SubstratesGlass, plates, foils etc.
Substrate sizesFlat samples > 150 mm x 150 mm (6 inch x 6 inch) Curved editions are available for several applications
Measurement spot / high sensitivity zone40 mm diameter (1.6 inch)
PowerLithium ion battery up to 20 h
Metal thickness range (four setups available)

very low: 0.001 – 0.1 Ohm/sq
Type low: 0.04 – 0.1 Ohm/sq
Type standard: 0.3 – 30 Ohm/sq
Type high: 0.3 – 50 Ohm/sq

Range depends on material conductivity. Examples:

CuAlAgTi0.17 – 17 µm0.27 – 27 µm0.16 – 15 µm5.5 – 550 µm170 – 425 nm270 – 675 nm155 – 380 nm5.5 – 13 nm0.6 – 56 nm0.9 – 90 nm0.5 – 50 nm0.018 – 1.85 µm0.4 – 56 nm0.6 – 90 nm0.3 – 50 nm0.013 – 1.85 µm

 

Sheet resistance measurementAvailable as additional feature, 5 ranges are available between 0.001 to 100 Ohm/sq
Accuracy (for planar solid surfaces, e.g. glass) <>
Dlay2.8 inch colored touch screen
Device dimensions (w/h/d) @ weight3.5” x 7” x 1.9” / 87 mm x 178 mm x 48 mm @ 340g
InterfacesBluetooth (optional) + data center


更多詳情請聯系昊量光電/歡迎直接聯系昊量光電

關于昊量光電:

上海昊量光電設備有限公司是光電產品專業代理商,產品包括各類激光器、光電調制器、光學測量設備、光學元件等,涉及應用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、、生物顯微、物聯傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設備安裝,培訓,硬件開發,軟件開發,系統集成等服務。

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