ATP5104-紫外增強高性能光纖光譜儀
產品概述
ATP5104是奧譜天成針對紫外光譜，特別研制的高性能紫外增強型微型光纖光譜儀，它采用3072像素的紫外增敏線性CCD，可以適應165-1100nm波長范圍的測試，CCD檢測器曝光時間可以控制在1ms之內，同時，奧譜天成為ATP5104特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業界*水平，可以幫助您可以獲得*的光譜信噪比。
ATP5104是紫外、可見、近紅外光譜應用的理想選擇，有不同的狹縫、光柵、反射鏡、濾光片可以選擇，可以根據您的需求，配置適合不同應用場合的光譜儀，光譜范圍從165nm起至1050nm，光譜分辨率可在0.5到4.0nm之間選擇，奧譜天成也可為OEM客戶提供定制選擇。
ATP5104可以接收SMA905接口光纖輸入或者自由空間輸入的待測光，根據設定的積分時間進行測量，將測量結果通過USB2.0（高速）或者UART輸出；
ATP5104-紫外增強高性能光纖光譜儀
特點：
紫外增強高性能背照式CCD
專門針對紫外優化的光路和結構；
探測器：背照式CCD
探測器像素：3072
超低噪聲CCD信號處理電路
光譜范圍: 165-1100 nm
光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
光路結構：交叉C-T
積分時間：2ms-130s
供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光輸入接口：SMA905或自由空間
數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
20針雙排可編程外擴接口
ATP5104-紫外增強
典型應用：
拉曼光譜儀
微量、快速分光光度計；
光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
透過率、吸光度檢測；
反射率檢測；
紫外、可見和短波近紅外
波長檢測
探測器 | |
類型 | 線陣背照式CCD |
探測光譜范圍 | 165-1100 nm |
有效像素 | 3072 |
像元尺寸 | 600μm×8μm |
全量程范圍 | ~200 ke- |
靈敏度 | 6.5 uV/e- |
暗噪聲 | 6 e- |
光學參數 | |
波長范圍 | 165-1100 nm |
光學分辨率 | 0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍） |
性噪比 | >1000:1 |
動態范圍 | 3000：1 |
工作溫度 | -10-40 oC |
工作濕度 | < 85%RH |
光路參數 | |
光學設計 | f/4 交叉非對稱C-T光路 |
焦距 | 40 mm for incidence / 60 mm for output |
入射狹縫寬度 | 5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制 |
入射光接口 | SMA905光纖接口、自由空間 |
電氣參數 | |
積分時間 | 1 ms - 130 second |
數據輸出接口 | USB 2.0 |
ADC位深 | 18 bit |
供電電源 | DC 5V±10% |
工作電流 | <2.3A |
存儲溫度 | -20°C to +70°C |
操作溫度 | -10°C to +40°C |
物理參數 | |
尺寸 | 102×720×34 mm3 |
重量 | 0.3 kg |
Sealing | Anti-sweat |
