產品概述
ATP6500是奧譜天成研制的超高性能高分辨率（-20℃）制冷型光纖光譜，它采用1044 x 64像素的制冷型背照式線性CCD，該CCD具有大的動態范圍，并采用了半導體制冷技術，降低了工作時的暗電流，CCD可工作在設定的恒溫環境（低可達-20ºC），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了信噪比（比同類競爭對手提高了約2倍），而且提高了ATP6500的測量可靠性，測量結果不隨環境溫度變化。
同時，奧譜天成為ATP6500特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業界水平。
ATP6500可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。
ATP6500只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。
特點：
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探測器：背照式CCD（制冷至-15 oC）
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探測器像素：1044 x 64
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超低噪聲CCD信號處理電路
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量子效率：>90%；
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超低Etalon效應；
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超高動態范圍；
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超高信噪比；
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光譜范圍: 190-1100nm
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光譜分辨率: 0.01-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
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光路結構：交叉C-T
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積分時間：2ms-130s
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供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
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18 bit, 570KHz A/DConverter
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光輸入接口：SMA905或自由空間
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數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
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20針雙排可編程外擴接口
典型應用：
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珠寶鑒定；
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光學器件的性能測量；
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多參數在線水質分析儀；
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微量、快速分光光度計；
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光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析
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熒光光譜儀；
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生化分析儀；
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透過率、吸光度檢測；
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反射率檢測；
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LIBS；
| 探測器 | |
| 類型 | 線陣背照式CCD (制冷到 -20ºC) |
| 探測光譜范圍 | 190-1100 nm |
| 有效像素 | 1044 x 64 |
| 像元尺寸 | 24μm×24μm |
| 全量程范圍 | ~600000 ke- |
| 靈敏度 | 6.5 uV/e- |
| 暗噪聲 | 8 e- |
| 光學參數 | |
| 波長范圍 | 190-1100 nm |
| 光學分辨率 | 0.01-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍） |
| 性噪比 | >3000:1 |
| 動態范圍 | 50000：1 |
| 工作溫度 | -10-45 oC |
| 工作濕度 | < 85%RH |
| 光路參數 | |
| 光學設計 | f/4 交叉非對稱C-T光路 |
| 焦距 |
98 mm for incidence / 107 mm for output |
| 入射狹縫寬度 | 5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制 |
| 入射光接口 | SMA905光纖接口、自由空間 |
| 電氣參數 | |
| 積分時間 | 1 ms - 130 second |
| 數據輸出接口 | USB 2.0 |
| ADC位深 | 18 bit |
| 供電電源 | DC 5V±10% |
| 工作電流 | <3.2 A |
| 存儲溫度 | -20°C to +70°C |
| 操作溫度 | -10°C to +45°C |
| 物理參數 | |
| 尺寸 | 170×110×52 mm3 |
| 重量 | 0.8 kg |
| Sealing | Anti-sweat |
