儀器名稱

冷場發射掃描電子顯微鏡

儀器型號

 S 4800

生產廠家

日本Hitachi公司

技術參數

1)     高分辨率FE-SEM對下列材料進行解析時具有一定的效果

2)     對電子材料表面形狀的高分辨率觀察(5nm以下)

3)     對高分子復合材料的低加速電壓低損傷觀察

4)     對納米材料表面／內部結構的相輔性觀察

適用領域

1)     廣泛地應用于各種金屬材料和非金屬材料的檢驗和研究

2)     在材料科學研究、金屬材料、化學材料、半導體材料、陶瓷材料等多個領域可以進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，                材料斷口分析和失效分析

3)     各種材料的形貌組織觀察；材料實時微區成分分析

4)     快速的多元素面掃描和線掃描分布測量；晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量

5)     元素定量、定性成分分析

6)     晶體、晶粒的相鑒定

檢測案例

樣品要求

1)     請根據自己樣品的性質及測試需求，自行查閱相關資料后，提供詳細的測試條件（電壓、電流、信號、放大倍數、標尺、                理想的照片等）

2)     樣品量不少于30mg。可以接受固體、粉末、薄膜或纖維樣品

3)     潮濕的樣品不能測試。有機的樣品需要具體溝通